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XRF（X 荧光光谱仪）技术指标 ? 波长色散X射线荧光光谱仪技术指标 编号XRF-01 1.???? 设备名称：波长色散X射线荧光光谱仪??? 2.???? 主要用途： ??? 用于进口铁矿、铜矿、镍矿和其他矿产品以及金属材料的定性、定量分析，固体及液体化工品样品的有毒有害元素的定性、定量分析。 3.???? 技术指标： 3.1??? 功能要求 ??? 用于金属材料、矿产品、石油化工产品等固态、液态、不规则样品的定性、定量及无标样分析，满足RoHS 有害元素分析、金属镀层分析等的要求。仪器应包括X光管、高压发生器、测角仪、分光系统、探测器、自动进样器、真空封挡装置、计算机、数据处理软件及其它的相关附件和装置。 3.2??? 详细技术性能指标 3.2.1 ?仪器硬件 3.2.1.1? 测量方式：顺序扫描式； 3.2.1.2? 分析元素范围：4Be~92U； 3.2.1.3? 含量范围：从零点几ppm到100%; 3.2.1.4? 自动进样器： 25位以上X-Y二维全自动机器人进样器，配10个30-35mm开口直径样品杯、5个25-30mm开口直径样品杯，5个15-20mm开口直径样品杯，5个5-10mm开口直径样品杯，以满足不同规格的样品分析；配与样品杯规格相配套的准直器面罩。 3.2.1.5? 高压发生器： *最大功率≥4kW；最大电压≥60kV，20-60 kV间1 kV连续可调； ?最大电流≥160mA，*不得低于150mA , 1mA连续可调。 *高压稳定性：外电源波动±1%时，输出波动为≤ ±0.0005%。 3.2.1.6? X射线光管： *类型：端窗Rh靶陶瓷光管, Be窗厚度75μm； *最大功率及电压、最大功率：≥4kW ，最大电压≥60kV， 最大电流≥160mA，*不得低于150mA *照射方式：下照射 3.2.1.7? 测角仪： 角度准确度：≤±0.001°角度再现精度：优于±0.0001° 定位方式：θ/2θ分别驱动，光学定位，无磨损； 3.2.1.8? 探测器： F-PC及SC，全真空扫描，计数率线性（cps）SC：1.5×106，F-PC：3×106 3.2.1.9? *分光系统： 配置不少于5块晶体（包括Be、B、C、N等元素专用多层膜分光晶体），晶体必须高强度覆盖要求的检测元素Be~U 3.2.1.10??????? 准直器：配置标准准直器、细准直器、粗准直器及超粗准直器，共4个准??????? 直器 3.2.1.11??????? 光谱室稳定性：光谱室温度稳定性≤±0.05℃ 3.2.1.12??????? *真空封挡装置： 配置真空封挡装置。在测量液体及松散粉末样品时，能够在样品室与光谱室间插入一程序控制的真空封挡, 使只有样品室冲洗氦气，光谱室始终保持真空状态，以便起到保护光谱室、节约氦气消耗、增加探测器稳定性和分析重现性的作用。 3.2.2 ?软件 3.2.2.1??? 基本要求： 具备定性、定量及无标样分析软件及可选用的RoHS 有害元素分析软件、多层膜软件、油品专用半定量、定量软件等，并包含以下功能：全自动安装与校准系统；光谱仪及进样器状态的实时、动态图形显示等； 3.2.2.2??? 定性分析软件： 能够高分辨显示样品谱图，具有自动背景扣除与平滑、自动寻峰以及元素识别功能； 3.2.2.3??? 定量分析软件： 具有分析曲线的自动导航；软件的智能系统提供测量参数的最佳条件；自动校正谱线重叠干扰；具备经验系数法、固定理论Alpha系数法、变动理论Alpha系数法等基体校正功能；灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息；分析结果超出警戒线会自动显示与报警等功能； 3.2.2.4??? 无标样定量分析软件： 在没有标准曲线的情况下对完全未知的各类样品进行自动定量分析，可以采用扫描模式进行无标样分析，也可以采用峰/背比测量模式。 3.2.2.5??? RoHS 有害元素分析软件、多层膜软件、油品专用半定量、定量软件（用户可选） 3.2.3 ?计算机配置： 计算机最低配置：双核2GHz, 1G内存,80G硬盘,16倍DVD/+-RW可擦写光驱,128MB显卡, 17”纯平显示器,键盘,鼠标,Windows XP操作系统，高性能彩色打印机。 3.2.4 ?仪器性能要求： 仪器的精密度、稳定性、X射线计数率、探测器能量分辨率、仪器计数线性等指标优于国家计量检定规程JJG810-93中规定的A级标准。 4.???? 主要配置： 4.1???????? 液体样品杯500个，麦拉膜200米。 4.2???????? 计算机控制系统与操作系统：计算机应是当前最先进的。计算机配置：优于P4 2.4GHz, 512MB RAM, 40GB以上硬盘, 1.44MB 软驱, 40倍速以上可擦写光驱, AGP