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- 2021-06-09 发布于四川
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- | 2018-12-28 颁布
- | 2019-11-01 实施
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经任何处理,选择4个实验室进行巡回测试,所用测试设备为相同厂家制造的不同型号设备,每个样片测试5次。测试结果显示,各实验室每个样片使用同一设备测试的相对标准偏差在1.5%内的占93.3%,在不区分实验室和设备型号情况下,每个样片的测试相对标准偏差均不大于22.0%。10.4SEMIMF1535-1015[25]中关于精密度的介绍参见附录F。
ICS77.040
H21
中华人 民共和 国国家标准
/ —
GBT26068 2018
代替 / —
GBT26068 2010
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试
非接触微波反射光电导衰减法
Testmethodforcarrierrecombinationlifetimeinsiliconwafersand
—
siliconinots Non-contactmeasurementofhotoconductivitdeca
g p y y
b microwavereflectancemethod
y
2018-12-28发布 2019-11-01实施
国家市场监督管理总局
发 布
中国国家标准化管理委员会
/ —
GBT26068 2018
目 次
前言 ………………………………………………………………………………………………………… Ⅲ
1 范围 ……………………………………………………………………………………………………… 1
2 规范性引用文件 ………………………………………………………………………………………… 1
3 术语和定义 ……………………………………………………………………………………………… 1
4 方法原理 ………………………………………………………………………………………………… 2
5 干扰因素 ………………………………………………………………………………………………… 2
6 仪器设备 ………………………………………………………………………………………………… 4
7 试剂 ……………………………………………………………………………………………………… 6
8 样品 ……………………………………………………………………………………………………… 6
9 测试步骤 ………………………………………………………………………………………………… 7
10 精密度…………………………………………………………………………………………………… 9
11 试验报告………………………………………………………………………………………………… 9
( ) …………………………………………………………………
附录 资料性附录 注入水平的修正
A 10
( ) ……………………………………………………………
附录 资料性附录 注入水平的相关探讨
B
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