SPC统计过程控制培训教材(PPT 55页).pptVIP

; SPC导出; ; 有反馈的过程控制系统模型;过程的状态的衡量过程控制:操作员培训、变换材料设备修理人员沟通改变车间温度、湿度输出控制:返修、返工、特采退步放行、降级、报废;变差及其产生原因 1)产品的特性具有变异性; 没有两件产品是完全相同的 任何过程都存在许多引起变差的原因 机加工轴直径的变差源?哪些是长期影响,哪些是短期影响? 2)产品质量的变异具有统计规律性; 利用统计技术来进行正确的推定和预测; 根据推定和预测采取正确的行动; ----------真正实现预防性管理;;;过程变差： 分布可以通过以下因素来加以区分;标准差(StandardDeviation) δ 过程输出的分布宽度的分布宽度的量度。;正态分布与几率;普通原因和特殊原因;普通原因;特殊原因;不同原因导致变差的措施 局部措施 通常用来消除变差的特殊原因 通常由与过程直接相关的人员实施 通常可纠正大约15%的过程问题 对系统采取措施 通常用来消除变差的普通原因 几乎总是要求管理措施，以便纠正 大约可纠正85%的过程问题 措施选择不当的后果;技术状态满足要求;两类错误一类错误:没有特殊原因影响,但采取了措施(过度控制)二类错误:有特殊原因影响,但没有采取措施(控制不足)不可能把错误概率降为零通过控制图可以有效地降低该错误;针对计量型数据和计数型数据的不同控制图控制图的主要特征:- 合适的刻度- 上下控制线- 中心线- 子组顺序- 失控点的识别- 事件记录;计量型数据控制图;使用控制图的准备;接上页;均值和极差图（X-R） ;接上页;1-3、计算每个子组的均值（X）和极差R 对每个子组计算： X=（X1+X2+…+Xn）/ n R=Xmax-Xmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?为子组内的每个测量值。n 表示子组 的样本容量 1-4、选择控制图的刻度 4-1 两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的测量值。 4-2 刻度选择 ：;接上页;计算控制限 首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限 。 2-1 计算平均极差（R）及过程均值（X） R=（R1+R2+…+Rk）/ k（K表示子组数量） X =（X1+X2+…+Xk）/ k 2-2 计算控制限 计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均 值和极差的变化和范围。控制限是由子组的样本容量以及反 映在极差上的子组内的变差的量来决定的。 计算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X - A2R LCLR=D3R ;接上页 注：式中A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系数值 见下表 ：;控制图：- 收集数据- 建立控制图- 登录数据- 计算数据- 建立控制限- 分析R图，找出失控点，分析特殊原因，采取措施，重新计算控制限，分析R图，找出失控点，分析特殊原因，采取措施，重新计算控制限- 更新Xbar图- 分析X bar图，找出失控点，分析特殊原因，采取措施，重新计算控制限;控制限的沿用和更新（子组容量的变更）控制图失控的特征：; 超出极差上控制限的点说明存在下列情况中的一种或几种： · 控制限计算错误或描点时描错； · 零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏）， 增大可以发生在某个时间点上，也可能是整个趋势的一 部分； · 测量系统变化（例如，不同的检验员或量具）； · 测量系统没有适当的分辨力。 有一点位于控制限之下，说明存在下列情况的一种或几种： · 控制限或描点错误；