线阵列探测器串扰试验.PDF

试验研究 线阵列探测器串扰试验 陈敏聪 （南京工程学院计算机工程学院，南京 ２１１１６７） 　 摘 要：通过对芬兰 公司生产的 线阵列探测器进行串扰试验，分析了 射线 ＤＴ ＸＳＣＡＮ０．４ｆ Ｘ 　 源的分布和光子在不同角度入射时对阵列探测器串扰的影响。介绍了探测器试验校准过程，包括 偏置和增益的校准。讨论了准直狭缝试验和边沿试验中探测器的位置分辨力，发现在阵列探测器 各单元工作性能稳定的情况下，串扰和散射是影响扫描图像均匀性的重要因素，而且相同能量的光 子在垂直入射与斜入射情况下产生的串扰不同。 关键词： 闪烁体；线阵列；串扰；位置分辨 ＧＯＳ 中图分类号： 文献标志码： 文章编号： （ ） ＴＧ１１５．２８ Ａ １０００６６５６２０１４０２００４２０３ 　　 　　　 　　　 犈狓犲狉犻犿犲狀狋犪犾犛狋狌犱狅狀犆犺犪狉犪犮狋犲狉犻狊狋犻犮狊犻狀犔犻狀犲犪狉犃狉狉犪犇犲狋犲犮狋狅狉狊 狆 狔 狔 犆犎犈犖犕犻狀犮狅狀犵 （ ， ， ， ） Ｎａｎｉｎ ＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＴｅｃｈｎｏｌｏ ＤｅａｒｔｍｅｎｔｏｆＣｏｍ ｕｔｅｒａｎｄＴｅｃｈｎｏｌｏ Ｎａｎｉｎ ２１１１６７Ｃｈｉｎａ ｊｇ ｇｙ ｐ ｐ ｇｙ ｊｇ ： 犃犫狊狋狉犪犮狋ＴｈｉｓａｅｒｍａｉｎｌｄｉｓｃｕｓｓｅｄｔｈｅｃｒｏｓｓｔａｌｋｉｎＸＳＣＡＮ０．４ｆｔ ｅＸｒａｌｉｎｅａｒａｒｒａｄｅｔｅｃｔｏｒｓｒｏｄｕｃｅｄ ｐｐ ｙ ｙｐ ｙ ｙ ｐ ｂ ＤＴｃｏｍ ａｎ ｉｎＦｉｎｌａｎｄ．Ｔｈｅｃｒｏｓｓｔａｌｋｓｂｅｔｗｅｅｎ ｉｘｅｌｓｔｈａｔａｒｅｃａｕｓｅｄｂ ｔｈｅｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎｏｆＸｒａｓａｎｄｔｈｅ ｙ ｐ ｙ ｐ ｙ ｙ ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉｎｃｉｄｅｎｔａｎｌｅｓｉｎａｒｒａ ｄｅｔｅｃｔｏｒｓａｒｅｒｅｓｅａｒｃｈｅｄ．Ｔｈｅｗｈｏｌｅｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ ｒｏｃｅｄｕｒｅｓｏｆａｒｒａ ｄｅｔｅｃｔｏｒｓ ｇ ｙ ｐ ｙ ｉｎｃｌｕｄｉｎ ｏｆｆｓｅｔｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎａｎｄ ａｉｎｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎａｒｅｉｎｔｒｏｄｕｃｅｄ．Ｓｌｉｅｘｅｒｉｍｅｎｔｓｉｎｃｌｕｄｉｎ ｂｏｔｈｏｆｖｅｒｔｉｃａｌａｎｄ ｇ ｇ ｐ ｐ ｇ ｏｂｌｉｕｅｉｎｃｉｄｅｎｃｅｓａｎｄｅｄｅｅｘｅｒｉｍｅｎｔａｒｅｅｒｆｏｒｍｅｄｔｏｄｉｓｃｕｓｓｔｈｅｏｓｉｔｉｏｎｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎｏｆｔｈｅｄｅｔｅｃｔｏｒｓ．Ｉｔｉｓｆｏｕｎｄ ｑ ｇ ｐ ｐ ｐ ｔｈａｔｃｒｏｓｓｔａｌｋａｎｄｓｃａｔｔｅｒｉｎ ｈｏｔｏｎｓａｒｅｔｈｅｍａｉｎｆａｃｔｏｒｓｔｏｉｎｆｌｕｅｎｃｅ