DA芯片测试系统的设计.doc

PAGE . 密 级 学 号 070270 毕业设计（论文） D/A芯片测试系统的设计 院（系、部）： 机械工程学院 姓 名： 易成龙 班 级： 测 072 专 业： 测控技术与仪器 指导教师： 林顺英 教师职称： 讲师 2011年06月15日·北京 北京石油化工学院 学位论文电子版授权使用协议 论文《D/A芯片测试系统的设计》系本人在北京石油化工学院学习期间创作完成的作品，并已通过论文答辩。 本人系作品的唯一作者，即著作权人。现本人同意将本作品收录于“北京石油化工学院学位论文全文数据库”。本人承诺：已提交的学位论文电子版与印刷版论文的内容一致，如因不同而引起学术声誉上的损失由本人自负。 本人完全同意本作品在校园网上提供论文目录检索、文摘浏览以及全文部分浏览服务。公开级学位论文全文电子版允许读者在校园网上浏览并下载全文。 注：本协议书对于“非公开学位论文”在必威体育官网网址期限过后同样适用。 院系名称： 机械工程学院 作者签名： 易成龙 学 号： 070270 2011年 06月 27日 D/A芯片测试系统的设计 PAGE IV 摘 要 随着计算机技术和微电子技术的迅速发展，D/A芯片测试系统的应用越来越广泛。测试过程应用于D/A芯片的制造过程，其主要目的都是为D/A芯片质量与可靠性提供一种度量。 本文介绍了D/A芯片测试的重要地位，分析了芯片测试系统的发展和现状，提出了相应的设计方案。系统选择美国NI公司的数据采集卡（NI-DAQ）PCI-6221对待测参数进行采集，应用LabVIEW编程语言对该测试系统的控制部分以及结果比对部分进行了设计，最终实现了一个闭环的测试系统的设计并给出测试结果。 与传统的测试方法相比，设计更开放与灵活，便于修改，成功的实现了数字端口的控制，模拟量的采集以及结果的比对与显示。 关键词：数模转化，虚拟仪器，LabVIEW，数据采集 Abstract With the rapid development of the computer technology and microelectronics technology, D/A chip-testing systems are used more widely. The testing process are used in D/A chip process, Main purpose is to provide a measure for D/A chip quality and reliability. The article introduces the important role of the D/A microchip testing and analyzes the chip test system development and situation. It also puts forward the corresponding design scheme. The system uses data acquisition card to collect the measuring parameters and choose America NI company’s data collection card (DAQ)M series NI-models :PCI6221 for acquisition signal equipment, applies the LabVIEW programming software for the test system software parts, the control parts and the result.The LabVIEW realizes the design of closed loop testing system and gives out the results. Compared with the traditional test methods, it is more open and flexible, easy to modify. It makes the design of digital control ports, analog capture and compare and display the results succeed. Key words: Analog-to-digital conversion， HYPERLINK app:ds:virtual%20instrument