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摩尔时代微电子技术发展探讨

后摩尔时代微电子技术发展探讨 提纲 一、引言:晶体管的发明引发电子工业的革命 二、硅微电子技术发展现状与趋势 三、硅微电子技术受到的挑战和对策 3.1、后摩尔时代硅基技术发展可能采取的措施 3.2、纳米电子器件和电路研究简介 3.3、量子信息技术相关研究取得进展 3.4、发展纳米电子学要解决的关键问题 一、引言:晶体管的发明引发的产业革命 ♣ 1947年的12月23日,Bell实验室的巴丁和布尔吞 发明了点接触锗晶体管,拉开了电子工业大革命的 序幕。 ♣ 1948年1月23日,在点电接触晶体管发明一个月 后,Bell实验室的肖克莱提出了结型晶体管结构和 PN结理论,为晶体管的实际应用打下了基础。 ♣ 晶体管的发明在当时的电子产业界反应冷淡,但 科学界还是给予了充分地肯定,1956年巴丁、布尔 吞和肖克莱三人被授予诺贝尔物理奖。 ♣晶体管的发明、硅材料和集成电路的研制成功,彻 底地改变了人类的生活方式和社会文明。今天几乎90% 以上的电子器件和电路都是以硅为基础的;2005年世界 集成电路的产值大约为2000亿美元。由它而拉动产值达 1万亿的电子产品。 世界半导体产品销售额 350 300 250 n o 200 i l l i b $ 150 301.7 262.5 224.000 233.6 100 205.1202.1 165.4 144.404 149.500 145.000 137.203 139.000 131.966 125.612 50 101.879 77.310 59.865 54.607 0 91 92 93 94 95 96 97 98 99 00 01 02 03 04 05 06 07 08 Year 二、硅微电子技术发展现状与趋势 2.1 硅材料作为现代微电子技术的基础,预 计到本世纪中叶都不会改变。 ♣ 硅单晶常采用垂直布里奇曼法(CZ)拉制, 目前用此方法拉制的最大硅直径为18英寸。为 保证晶体的质量,常在拉晶的过程中需自动加 料,或加磁场来改善晶体中掺杂杂质分布的均 匀性。 ♣ 硅单晶的年产量已超过10000吨,8-12英寸 的硅单晶已工业生产;18英寸的硅单晶已研制 成功;27英寸硅单晶生长也在筹划中。 2.2 直拉硅单晶存在问题 ♣ CZ-Si 中高浓度间隙态过饱和氧存 在和随着硅锭直径增大,长度加长,微缺 陷密度增高及其掺杂剂的径向、纵向微 区不均匀分布,难以满足集成电路,特 别是当IC的特征线宽小于100纳米时,对 硅单晶材料的要求。 2.3 硅外延材料和SOI材料 ♣ 硅外延材料可有效地控制氧、碳等杂质 沾污,提高其纯度、完整性和掺杂均匀性; 可用于IC 线宽小于100nm ULSI和电力电子 等大功率器件与电路制造。 ♣ 目前,8-12英寸

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