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IC生产制造（测试部分） 课程目的 Contents IC测试的定义： 任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块，IC测试就是集成电路的测试，就是运用各种方法，筛选出那些在制造过程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的芯片，因而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的环节之一。 IC测试的作用： 将大批量生产制造过程中的有缺陷的芯片挑出来或将芯片分等级。 IC测试的分类： 量产测试：CP测试、FT测试； 抽检测试：QC测试、QA测试； 其它测试：ESD测试、可靠性测试等； IC量产测试---CP测试 IC量产测试---CP测试 IC量产测试---FT测试 IC抽检测试---QC测试 IC抽检测试---QA测试 IC量产测试与抽检测试的异同 IC测试与IC验证的区别 测试术语-1 测试术语-2 Contents IC量产测试内容 DC test: Voltage, current； Function test: logic pattern； AC test: timing； Analog test: INL/ DNL/ SNR ； RF test：Baseband，TX，RX； 系统级测试：（System level testing，亦称Module Test)； DC Test---open/short test AC Test AC Test Scan Test Memory Test Contents IC测试系统---CP测试系统 CP测试备件---Probecard 方形针卡、圆形针卡 悬臂式、垂直式 Pad size: 40X40(um) Pad pitch: 35um 连接方式：pogo tower、cable 线 IC测试系统---FT测试系统 FT测试备件---Socket 通讯接口 ATE设备分类 Logic tester: V50;SC312 Memory tester:Kalos;T5335 Mix signal tester:J750;Verigy93000;D10 模拟、线性类：ASL1000;ETS200;AST1000 大型ATE制造商: Teradyne;Verigy;Advantest;Credence 国内ATE制造商：Accotest;泰思特;MTS… 自动测试设备(ATE) ATE是一种由高性能计算机控制的测试仪器的集合体，是由测试仪和计算机组合而成的测试系统，计算机通过运行测试程序的指令来控制测试硬件。 测试系统的基本要求:快速、可靠和稳定。 Digital ATE评价指标：时钟频率、通道数、向量深度、多Sites J750 tester AWT1K Tester AWT1K Tester组成 AWT1K Tester基本功能和运用 back plane board Pattern board Power board Contents 测试开发流程 测试报告与测试release 课程内容回顾 AWT1K Tester Power board Pattern board Power board Power board Pattern board Power board back plane board USB PC 测试pattern 供电 测试电压、电流 控制relay开关 读取TTL电平信号 测试频率 I2C控制接口 1 2 4 3 功能 运用 PMU产品 CP/FT测试 SOC产品 FT测试 32路控制relay开关 32路读取TTL电平信号 数据与信号传输 USB接口 TTL接口 32 个digital channel 512K pattern 深度 最快频率2MHz data rate VIH/VIL/VOH/VOL 电压设置范围：0~5V 8路FVMI/FIMV 电压范围-8V~+8V 电流范围 -200mA ~ +200mA 3个档位，最大精度1uA 2路测频率 IC测试基础 1 IC测试内容 2 IC测试系统 3 IC测试开发流程 4 Design spec Test plan 测试工程分析 Tape out 误宰误放 实验 小批量 试量产 测试release Sample back 调试 测试系统建立验证 量产准备 报告 release 测试工程分析报告 签核确认后的IC测试规范 测试电路板图纸 测试系统一致性、稳定性实验报告 产品委外测试交接确认单 产品测试作业指导书 测试系统建立及验证报告 误宰误放实验报告 试生产各批次良率分析报告 低良率分析报告 测试Release CopyRight?2013 Allwinner Technology,