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能谱分析 GENEDS能谱分析用户手册2006_图文.doc
能谱分析 GENEDS能谱分析用户手册2006_图文
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选择较高的峰背比值,意味着自动峰识别将忽略较小的峰。但是如果谱线没有满足统计学要求或者存在不适当的背底时,这也将减少那些并不存在的峰的错误识别。 测试样品时的自动峰识别有两种方式供选择。半导体方法“Semicon method”专门适用于解决低能峰重叠。对于大多数情况,应当选择“All Types”。
The Auto ID Sample selection allows for two choices for Auto Peak Id methods. The Semicon method is a special method for resolving low energy peak overlaps. For most cases the All Types option used.
6.1.2 Z List
6.1.2 元素列表
按 Z List 键,将给出元素列表,在定量分析中必要时可以手动调整元素(详述见
第七章定量分析)。
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