材料分析方法 第3版 教学课件 ppt 作者 周玉 第5章.pdfVIP

第一篇 材料X射线衍射分析 第一章 X射线物理学基础 第二章 X射线衍射方向 第三章 X射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定 第七章 多晶体织构的测定 1 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 本章主要内容 第一节 定性分析 第二节 定量分析 第三节 点阵参数的精确测定 第四节 非晶态物质及其晶化过程 的X射线衍射分析 1 第一节 定性分析 一、基本原理 l X射线衍射分析以晶体结构为基础，每种结晶物质都有其 特定的结构参数，包括点阵类型、单胞中原子种类、数目 和位置及单胞大小等 l 这些结构参数在X射线衍射花样中必有所反映 l 多晶体物质衍射线条的数目、位置以及强度，是该种物质 的特征，因而可以成为鉴别物相的标志 l 世界上不存在衍射花样完全相同的两种物质，因此可利用 衍射花样与标准物质衍射卡片对照进行物相鉴定 l 衍射线条的位置由2决定，而取决于波长及晶面间距d, 其中d是晶体结构决定的基本量。应用时，将待测花样和标 准花样d及I系列对照，即可确定物相 1 第一节 定性分析 二、粉末衍射卡片(PDF) 粉末衍射卡片是物相定性分析必不可少的资料，卡片出 版以经历了几个阶段， 1) 1941年起由美国材料试验协会ASTM 出版 2) 1969年由起粉末衍射标准联合委员会JCPDF 出版 3) 1978年起JCPDF与国际衍射资料中心联合出版，即 JCPDF/ICDD 4) 1992 年后的卡片统一由ICDD 出版，至 1997年已有卡片47 组，包括有机、无机物相约67,000 图5-1为1996年出版的第46组PDF(ICDD)卡片，卡片中各栏 的内容见图5-2的说明 1 第一节 定性分析 一、粉末衍射卡片(PDF) 46-394 ★ SmAlO d /Å Int hkl 3 Aluminum Samarium Oxide 3.737 62 110 Rad. CuK 1.540598 Filter Ge Mono. D-sp Guinier Cut off 3.9 3.345 5 111 1 Int. Densitometer I / I . 3.44 2.645 100 112 cor