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CPK 培訓教材 一.Cpk的定義 某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力. 二.Cpk的影響因素 製程要因---原料,机器設備,人員能力,測量儀器. 製程條件---常態分配,統計管制狀態. 三.Cpk的計算 USL:上限尺寸 LSL:下限尺寸 Average:測量數据的平均值 σ:標準差,其公式為: σ= Cpu=(USL-Average)/3σ Cpl=(Average-LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu,Cpl) σ:其大小表示測量數据的離散程度, σ越小表示數据的離散程度越小,反之則數据的離散程度越大. Cpu:其值表示測量數据偏離上限的程度, Cpu越大表示測量數据偏離上限較遠; 反之則數据靠近上限. Cpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度, Cpl越大表示測量數据偏離下限較遠; 反之則數据靠近下限. 四.Cpk的等級 A: 1.33≦Cpk A級,製程能力滿足圖紙要求,生產中几乎沒有不良品產生. B: 1.00≦Cpk1.33 B級, 製程能力基本滿足圖紙要求,生產中約有0.27%不良品產生,必須加以注意,並設法維持不使其變坏. C: Cpk1.00 C級, 製程能力不能滿足圖紙要求, 生產中可能有較多不良品產生, 應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產. 五.Cpk 管制抽樣的基本原則 區 分 重要尺寸 次要尺寸 Cpk值 管制方法 取樣頻率 管制方法 取樣頻率 1.00以下 檢驗 全檢 檢驗 全檢 1.00~1.33 管制圖 高 管制圖 中 1.33~1.66 管制圖 中 查檢表 中 查檢表 高 1.66~2.00 管制圖 低 查檢表 低 查檢表 中 大于2.00 視情形需要 管制方法 取樣頻率 管制圖 查檢表 高 1--2小時 15--30分鐘 中 4--8小時 每小時 低 每班次 2小時 六.CPK數据分析. 1.數据均分布于中值兩旁, Cpk值一般大于1.33,見附圖１. 2.數据离散地分布中值兩旁,Cpk值一般小于1.33,見附圖２. 3.數据分布离散度小,但偏中值不遠,Cpk值大于1.33,見附圖３. 4.數据分布离散度小,但偏中值較遠,Cpk值小于1.33. 見附圖４. 5.數据絕大多數雖均分布于中值兩旁,但個別超差,將大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1.33,見附圖５. 七,Cpk的提高. 1.減小σ,即增強設備的穩定性,增加夾具夾緊定位的可靠性,提高刀具切削的穩定性 2.精心調整,使數据均布于中值兩旁. 3.加強監控,當數据偏离中值較遠時,要及時調机,不必等到超差時再調机. 八.CP制程精确度. CP=Ｔ/6σ. T:尺寸公差值 CP:其值表示制程的精确程度, CP越大制程精确程度越高,反之則制程精确程度越低. CP的分級: A : 1.33≦CP B : 1.00≦CP1.33 C : 0.83≦CP1.00 D : CP0.83 CP等級的處置 Ａ級:此一工程甚為穩定,可以將規格容許差縮小或胜任更精密的工作. Ｂ級:有發生不良品之危險,必須加以注意,並設法維持不要使其變坏及迅速追查. Ｃ級:檢討規格及作業標準,可能本工程不能胜任這么精密的工作. Ｄ級:應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產. 九 . 制程精密(ＣＰ值)与不良率的關系 當數据對稱分布于中值兩邊時,良品率的分布如下: 制程精密度(CP值)与不良率的關系如下: CP值 規格公差(T) 不良率(規格以外比率) 單邊規格 變邊規格 0.33 2δ(±δ) 15.87% 31.74% 0.67 4δ(±δ) 2.27% 4.54% 1.00 6δ(±δ) 0.14% 0.28% 1.33 8δ(±δ) 31.5PPM 63PPM 1.60 9.6δ(±δ) 0.81