输入数据频率和图像分析.PDFVIP

输入数据频率和图像分析 左西年转译自Tecplot 网站： 随着CCD 照相机的普及应用， 越来越多的数据可以产生出图像。 本文将一幅图像装载到 Tecplot 进行简单的数据分析。另外，我们也恰能了解到Tecplot 中的单变量区域的一些使用方 法。. 我们的原始图像是一幅电子显微镜传感 (T EM) 位图。 TEM 图像是将一高能电子显微镜放 置到一个极细并且部分透明的硅晶片上，然后用CCD 照相机记录电子阴影得到。 TEM 成像允 许扩大1,000,000 倍， 能得到高分辨率的影像， 点到点的分辨率要好于2 纳米。 步骤1: 将 TEM 图像转换为文本 原始TEM 位图. 1. 打开 TEM 扫描 图像 (TEM_scan.bmp 1,424 KB) （使用某一 图像应用程序；本 例中我们使用 ImageJ — 一个可 以在这里下载到的 免费程序。) 2. 在左上角， ImageJ 显示出图 像的分辨率。这些 信息在 步骤2 中要 用到。 3. 修剪这幅图片使 得黑色最少。现在 图像具有692 x 296 个像素。 4. 另存为一个文本 图像： TEM_scan.txt. 步骤2: 增加头信息并载入Tecplot 5. 打开文件 TEM_scan.txt （可用记事本）。 此文本文件包含了 巨量的灰度数值。 6. 增加文件头信息 到文本文件。 7. Variables = INT (会都是唯一 的变量)。 8. Zone I = 692, J = 296 (像素的高和 宽)。 9. 保存文件。 10. 使用Tecplot 装 载 TEM_scan.txt 。 步骤3: 分析数据 1. 一旦文本文件 载入Tecplot ，我们 会看到一个矩阵。 2. 在 Data Set Info 对话框I-max 是 692 、J-max 是 296 — 就是 TEM 图像的分辨 率。 在这里灰度是唯一 的变量。一般情况 下灰度分布于区间 [0, 256] 。 (在这里 就是达到 225 。) 3. 在Display Performance 对 话框，选择Do Not Cache Graphics 。 Tecplot 加速。 4. 关闭Mesh。打 开Contour 。 5. 缺省情况下结 果图像是15 轮廓 线标准。 6. 使用Color Map 对话框， 改变 base color map 为GrayScale 。 7. 使用 Contour Levels 对话框， 改变contour levels 为 400 。 8. 结果看起来近 似 TEM 扫描图像 了。 9. 观察作为位置 函数的晶片高度， 使用Line Data 提 取工具提取一系列 的数据。 10. 使用 Extraction Tool标 线 （交叉瞄准线）， 点击两个端点组成 线 11. Extract Data Points 对话框会 出现，点取 400 点 到 zone。 12. 使用Frame tool ，在数据上方放 置一个新的框架。 13. 选取 XY 框 架模式到新框架。 14. 打开指定的 Plot Attributes 对 话框。 15. 改变 Y-axis 变量为INT。现在 我们看晶片长度对 应灰度。 16. 选取 Extracted Polyline 为动态的Zone 。 (Zone 1 包含所有 的数据) 17. 点击CtrlL-F。 这是将 XY 适合 全坐标尺寸。 XY 画出了晶片高 度函数（自变量是 位置坐标）。 18. 使用 Edit Current Frame 对 话框，关掉边界和 背景。 19. 最后的图示包 括了表面的高度和 图像分析。 你可以在此基础上 做出更具可视化的 图示，比如下面的 彩色版本。