MAP光开关解决方案-ViaviSolutionsInc.PDFVIP

MAP 光开关 解决方案 mOSW-C1/mISW-C1 制造测试自动化对于降低产品成本至关重要，而光开关是任何 主要优势 自动化测试系统的核心。Viavi mOSW-C1 光开关模块解决方 y 可提供所有类型的光交换，与数据速率和传输 格式无关 案和 mISW 光开关盒基于行业领先的第四代仪器类 Viavi 光开 y 不管开关尺寸如何，对系统动态范围的影响都能 关技术构建。mOSW-C1/mISW-C1 在跨网络光切换、监控和 达到最小，并且从 1x2 至 1x176 的所有配置都能 实现低损耗 制造应用中保持领先地位超过 30 年，它拥有出色的性能和可 y 灵活的 SCPI 远程接口使用户能够使用 MAP-200 靠性，并且具有业界最小的体积，树立了一座新的里程碑。 样式的命令对开关进行编程，或保持与行业标准 Viavi SB/SC 系列光开关的向后兼容 y 保证超低的 0.04 dB PDL 和 ±0.005 dB 重复 大型固定格式 19 英寸 Viavi 机架安装系统中才有的性能和重复性首次在一个模块化插件或 性，在单输入版本上可以最大程度地降低测量 开关盒中得以实现。制造工程师再也不用在选择测试系统尺寸和系统性能时左右为难。利用 不确定性 mOSW-C1/mISW-C1 可将切换系统的尺寸缩小多达 75% ，同时性能达到了尺寸大很多的传统系 y 全新 PTRIM 选件可测量内联功率，并且可在连 统的水平。开关速度提升了 50% ，显著节省了连接密集型架构的测试时间。 接的端口上增加最多 20 dB 的粗可编程损耗 y 1C、2D （双工）和 2E 输入配置实现了节省成本 这些开关是 MAP-200 系列的模块化插卡。它拥有行业中范围最广泛的光学模块，是所有光学 的架构，可减少所需的开关数 行业细分市场中制造测试自动化的最热门选择。这包括无源元件、收发器和线路板卡的制造。 y 扩张光束技术确保了多模开关是“形式上透明 由于 MAP-200 可通过远程 VNC 、以太网、GPIB 或本地 GUI 进行高级连接，显著简化远程制 的”，并且不会干扰模式分布，从而大大简化了 传输测试或带有符合 IEC 标准模式启动的测试 造站点的调试工作，因此成为复杂自动化架构的一个自然选择。 应用 y 多端口组件、模块和线路板卡的测试系统自动化 y 管理复杂的制造测试顺序 y 针对长期可靠性进行测试 y 与 MAP-200 mORL-A1 模块搭配使用来测试多