X荧光光谱仪的原理PPT.pptVIP

X-荧光光谱仪讲座 ; 1、简述X荧光光谱仪的原理和结构？ 2、P10气的作用是什麽？ ;X-荧光光谱仪原理和结构 ;二、X-荧光光谱仪的工作原理及构造;1、X射线荧光光谱仪的基本原理;分步说明;⑵色散系统;a、准直器;b、晶体;晶体衍射和稳定性;⑶探测器;流气正比计数器;只产生一次雪崩效应，这个经放大后的电荷数仍正比于初级电子数，也即正比于入射光子数，如果将产生的电子电荷计数就测得了入射光子的数目（强度）。 在惰性气体中加入淬灭气体（甲烷气）的目的是确保只发生一次雪崩，在工作时甲烷分子和惰性气体一起电离，然后分布在整个探测器空间，当雪崩无法控制时，它起到复合作用，影响电子和离子的重新结合，抑制雪崩的发展。 总之，X射线光子进入探测器后经过初级电离和气体放大，一个光子能产生许多电子电离对，其中电子向阳极运动、离子向阴极运动形成电流，最终在电脉冲发生电路上形成电脉冲，探测器输出电脉冲幅值与入射光子能量成正比，而电脉冲的强度与入射光子的数目成正比。 ;闪烁计数器;三、X射线衍射的分析(XRD)系统测量的是经衍射后的来自X光管发射的某一特定波长,这个特定波长的光是被待测样品中存在的晶体晶面所衍射,它是用来测定样品中的化合物而完成样品分析. XRD原理:来自X射线管的原级X射线,经一初级准直器将X光形成几乎是平行光柱射入试样并被衍射,从试样射出的衍射光进一步被一个二次准直器准直,射向一个适当的晶体，经衍射后进入出射准直器，再进入探测器就检测出不同结构的物相。; ?; 总之，X射线荧光分析（XRF）是用来测定样品中的元素组成，即完成元素分析；而X射线衍射分析(XRD) 是用来测定样品中的化合物，即完成物相分析。 所有XRF和XRD光谱仪测量的都是强度.仪器只有经过标准物质校准后才能求得浓度,需要强调的是XRF光亮计是一种非常准确的比较器,但最终的分析准确度,完全取决于用于校准物质的质量. 强度浓度关系通常是线性关系,但在某些情况下二次曲线也可使用,实际上,元素的强度不仅是其浓度的函数,还受到来自诸如谱线重叠,吸收增强效应(基本干扰),颗粒度影响和矿物效应等干扰.; 谢 谢！