篇名微观世界－浅谈原子力显微镜作者蔡亿颖台中一中高一22班.PDFVIP

微觀世界－淺談原子力顯微鏡 篇名 ：微觀世界－淺談原子力顯微鏡 作者 ：蔡億穎。台中一中。高一22班 謝楷立 。台中一中。高一22班 0 微觀世界－淺談原子力顯微鏡 壹●前言 今日我們所處的社會 ，科學發展一瀉千里，拜這些科技之賜，我們能有如此便捷 的生活 。而科學之所以能如此的日新月異，儀器的發明可說是功不可沒，在許多 工具被發明前 ，人們只能藉由五官來探索自然 ，其能觸及的範圍有限，又容易有 謬誤 ；等到如望遠鏡、顯微鏡出現後，從此，人們的視野開闊了，上至天文，下 至細胞 ，甚至是分子、原子都不是問題。 而在許多有關化學 、材料、化工、半導體、地質、生物的領域中，有關固體表面 的資訊是相當重要的 ，早期獲得此類訊息的方法是光學顯微鏡(OM)，目前 ，較高 解析度之此類訊息則是由掃描式電子顯微鏡(SEM)、掃描隧穿式顯微鏡(STM)及原 子力顯微鏡(AFM)來取得 。 假如傳統光學顯微鏡是用看的話 ，原子力顯微鏡就有點類似用摸的，探針可 以因為與樣品間的原子作用力而 產生偏移 ，然後再以雷射測量其偏移量。 很幸運的 ，我們有機會參加原子力顯微鏡(AFM)的實作訓練課程 ，並也對此產生 濃厚的興趣 ，因此，在這裡將這屬於掃瞄式探針顯微鏡(SPM)家族的原子力顯微 鏡(AFM)作一簡單的探討及整理 。 貳●正文 ㄧ、掃描式探針顯微術的介紹 掃描式探針顯微術(Scanning Probe Microscopy, SPM)是在 1980年代初期所發 展出的一種新的顯微鏡技術的總稱 ，主要是利用極微小的探針對樣品表面進行檢 測，檢測的解析度可達到奈米甚至原子尺寸的等級 。除了試片的表面形貌外，也 可以呈現出樣品表面與次表面的三度空間表面特徵。它亦具有量測試片表面材料 軟硬程度及特性的功能 ，且可在大氣環境下進行檢測，故其應用領堿不斷地擴大。 因有別於之前已發展成熟的光學顯微鏡(Optical Microscope,OM)及電子顯微鏡 (Electron Microscope, EM)，而又被稱為繼光學顯微鏡 、電子顯微鏡後的第三 代顯微鏡 。 1 微觀世界－淺談原子力顯微鏡 常用顯微鏡比較表(表) 光學光學 掃描式電子掃描式電子 穿透式電子穿透式電子 掃描探針掃描探針 光學光學 掃描式電子掃描式電子 穿透式電子穿透式電子 掃描探針掃描探針 顯微鏡顯微鏡 顯微鏡顯微鏡 顯微鏡顯微鏡 顯微鏡顯微鏡 顯微鏡顯微鏡 顯微鏡顯微鏡 顯微鏡顯微鏡