前放电路专用测试设备.docVIP

河南科技大学毕业设计（论文）开题报告 （学生填表） 院系：电子信息工程学院 2012年03月9日 课题名称 前放电路专用测试设备 学生姓名 杨雪彪 专业班级 自动化084 课题类型 硬件设计 指导教师 杨雷 职 称 讲师 课题来源 科研2. 国内外同类设计（或同类研究）的概况综述 测试既是集成电路产业链中的一环，也是集成电路产品验证出厂的关键，由于测试技术含量高、知识密集，一直是我国集成电路产业发展的制约因素。近几年来，对于刚刚提速的国内半导体业来说，其测试能力相对IC设计、制造、封装，这却是最薄弱的一环。芯片测试是集成电路产业不可或缺的一个重要环节，而测试时间和测试效能是制约集成电路产业发展的两个重要因素。与迅速发展的设计业相比之下，我国测试业的发展却相对滞后，目前能够独立承担专业测试服务的公司寥寥无几，不能满足众多IC设计公司的验证分析和产业化测试需求，已日益成为我国集成电路产业发展的一个瓶颈。目前，对于高端集成电路产品，主要还是送到国外去测试，国内的测试能力远远满足不了市场的需求。 面对当前我国的测试行业现状，一种基于虚拟仪器的测试技术不断发展，这充分的利用了计算机硬件资源的超高性价比，以及通用性强的特点，使得测试工作变得相对容易，目前有不少关于虚拟仪器结合相关接口板卡为基础的测试平台，本研究对象的前置放大电路也有不少人从事相关的测试，但是就我所见，有些测试设备混乱，有些可以精简，而有些显得不足，甚至一些重要的参数又没有很好地测试，而且模块化不强，使得设备显得不甚得当。 参考文献 高晋占 微弱信号检测 清华大学出版社，2004年11月第一版 宋爱国 等 测试信号分析与处理 机械工业出版社，2006年1月第一版 张虹 电路与电子技术（第二版） 北京航空航天大学出版社，2007年2月第二版 王文辉 等 电路与电子学（第三版）电子工业出版社，2005年12月第三版 李传琦 电力电子技术计算机仿真实验 电子工业出版社，2006年2月第一版 侯振义 夏铮 集成电源技术与应用 中国电力出版社，2006年9月第一版 Ron Lenk Practical Design of Power Supplies ISBN 7-115-14641-1/TN·2755 Keith Billings Switchmode Power Supply Handbook(Second Edition) ISBN 7-115-15340-X/TN·2872 基于LabVIEW的放大器自动测量系统/2007/07/.shtml 半导体测试产业现状 /bbs/index_Article_4843.html 基于GPIB的前放电路测试仪硬件设计与实现 /p-.html 基于LabVIEW的放大器自动测量系统的实现/htm_tech/2008-1/11169_.htm 大陆集成电路测试行业现状和发展 /wordpress/?p=608 混合信号集成电路自动测试设备的研究与实现/Article/CDMD-10532-.htm 3. 课题设计（或研究）的内容 初步计划采用NI公司PXI设备建立一套专用于前放电路的测试设备，具体硬件电路的选择后期再做充分的论证。设备具有可编程供电单元、电路动态性能测试单元和噪声测试单元等。设备能够产生高频率的正弦波形，能够完成高速数据采集和分析，实现放大器动态性能测试；另外测试设备还能够对A/D转换芯片实现AD转换有效位数测试。 设计一套完整的测试设备，能够实现如下功能； 1、测试放大器放大倍数； 2、测试放大器带宽； 3、测试放大器幅频特性，并绘制波特图； 4、测试放大器信噪比，计算放大器噪声大小； 5、A/D转换芯片转换结果可通过RS422接口与计算机通讯，测试设备可对AD转换结果进行有效位数计算，估计AD转换芯片有效位数； 4. 设计（或研究）方法（方案） 首先对测试对象进行必要的抽象，为一个可以方便而有效地对放大器进行参数测试工作而建立的一套测试设备，初步思路如下图： 对于附属电路，如信号发生模块，供电模块，A/D转化模块，以及相应的测试电路没有画出，这里仅仅画出了简单的流程图。 对于前置放大电路的测试，需要一套比被测放大器精度更高，性能更优越的设备来完成，也就是说测试系统的放大性能指标要比被测放大器精密至少一两个数量级以上。一套理想的测试系统，应该有这样的性能，对噪声，干扰，温度，电网波动等有绝对的抵抗能力，本身又没有任何的信号失真，并能够快速而高精度地处理数据，而且方便地显示，另外除了可以自动地完成预定的测试任务外，还可以方便地进行人机交互。基于Simple is Best的设计理念，在考虑性能的同时还应该