[经管营销]SPC培训教材-AMC.ppt

欢 迎 参 加 统计过程控制的定义 过程控制的需要 检测——容忍浪费 变差的普通和特殊原因 普通原因：造成随着时间的推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变差的原因，有时称为“受控”。如：机器（间隙、轴承磨损）、工具（强度、磨损）、材料（直径、硬度）、操作人员（进给速率、对中准确度）、维修（润滑、易损零件的更换）及环境（温湿度、动力供应是否恒定）等。 特殊原因（通常也叫可查明原因）：造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。如材料的更换、人员的更换、机器的停机重启、刀具的异常磨损等。 局部措施和对系统采取措施 局部措施： 通常用来消除变差的特殊原因 通常由与过程直接相关的人员实施 大约可纠正15%的过程问题 对系统采取措施 通常用来消除变差的普通原因 几乎总是要求管理措施，以便纠正 大约可纠正85%的过程问题 过程改进循环及过程控制 应用控制图之前应明确的问题 根据顾客要求和PFMEA来确定控制图的需要及其优先次序 明确谁来绘制控制图 明确谁来进行失控状态的识别和预警 明确谁来解释和解决问题 明确谁来进行改正行动，包括在问题彻底识别和解决之前的问题的遏制。 明确谁来负责动态地改动控制图和采样频度。 明确谁来负责对控制图效果的评估和驱动过程的持续改进。 均值和极差图（X-R图） ； 均值和标准差图（X-s图） 中位数图（X-R图） 单值和移动极差图（X-MR图） 均值和极差图（X-R图） 实施步骤： 第一步：收集数据 -选择子组大小、频率和数据 -建立控制图及记录原始数据 -计算每个子组的均值（X）和极差（R） R=X最大值-X最小值 -选择控制图的刻度 -将均值和极差画到控制图上 均值和极差图（X-R图） 实施步骤： 第一步：收集数据 均值和极差图（X-R图） 实施步骤： 第一步：收集数据 第二步：计算控制限 -计算平均极差（R）及过程平均值（X） -计算控制限 UCLR=D4R，LCLR=D3R，UCLX=X+A2R，LCLX=X-A2R 式中D4、D3、A2为常数，它们随样本容量N的不同而不同。 -在控制图上作出平均值和极差控制限的控制线 均值和极差图（X-R图） 实施步骤： 第一步：收集数据 第二步：计算控制限 第三步：过程控制解释 -分析均值/极差图上的数据点 均值和极差图（X-R图） 实施步骤： 第一步：收集数据 第二步：计算控制限 第三步：过程控制解释 -分析均值/极差图上的数据点 -识别并标注特殊原因 均值和极差图（X-R图） 均值和极差图（X-R图） 实施步骤： 第一步：收集数据 第二步：计算控制限 第三步：过程控制解释 -分析均值/极差图上的数据点 -识别并标注特殊原因 -重新计算控制极限 均值和极差图（X-R图） 实施步骤： 第一步：收集数据 第二步：计算控制限 第三步：过程控制解释 第四步：过程能力解释 -计算过程的标准偏差 -计算过程能力 -评价过程能力 -提高过程能力 均值和极差图（X-R图） 均值和极差图（X-R图） 均值和极差图（X-R图） 均值和极差图（X-R图） 均值和极差图（X-R图） 均值和标准差图（X-s图） 象X-R图一样，X-s图也是从测得的过程输出数据中发展来的。一般当出现下列一种或多种情况时用s图代替R图： 数据是由计算机按实时时序记录和/或描图得，则s的计算程序容易集成化； 有方便适用的袖珍计算器使s的计算能简单按程序算出； 使用的子组样本容量较大，更有效的变差量度是合适的。 X-R的子组一般小于9，X-s的子组一般大于9。 中位数图（X-R图） 中位数图可代替X-R用于测量的数据过程控制，尽管中位数在统计意义上不如均值那样理想，但中位数可产生相同的结论并具有如下优点： 中位数易于使用，并不要求很多计算； 由于描的是单值的点（以及中位数），中位数图可显示过程输出的分布宽度并且给出过程变差的趋势； 由于一张图上可显示中位数及分布宽度，所以它可用来对几个过程的输出或同一过程的不同阶段的输出进行比较。 单值和移动极差图（X-MR图） 单值和移动极差图通常用于测量费用很大（如破坏性试验）或在任何时刻点的输出性质比较一致（如化学溶液的PH值）这些情况，但实际应用时要注意以下4点： 单值控制在检查过程变化时不如X-R图敏感； 如果过程的分布不是对称的，则在解释单值控制图时要非常小心； 单值控制图不能区分过程的零件间重复性，因此，在很多情况下，最好还是使用常规的子组样本容量较小（2到4）的X-R控制图，尽管在子组间都要求较长的时间； 由于每一子