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第4章-存储系统PPT
1 第4章 存储系统 4.1 存储器的基本原理 4.2 存储器的构成 4.3 8086CPU的存储器扩展 2 RAM:随机访问存储器 SRAM:静态存储器 Static random access memory DRAM:动态存储器 Dynamic random access memory ROM:只读存储器 Read only memory 4.1 存储器的基本原理 3 1. SRAM存储器 T1~T4构成双稳态触发器 数据读出时,X、Y译码线为高 数据写入时,I/O数据准备好,然后X、Y译码线为高 特点:速度快、电路复杂 4 SRAM存储器芯片结构 5 1024×1位结构芯片内部框图 8 A0~A12:地址线 D0~D7:数据线 WE~:写允许信号,低有效 OE~:读允许信号,低有效 CE~、CS:选片信号 Vcc(28)、GND(14): SRAM 6264 9 2. DRAM存储器 动态RAM是以MOS管源极电容是否充有电荷来存储信息的,其基本单元如下图所示。 由于只用一个MOS管,所以功耗很低,存储容量可做得很大。它是由T管和寄生电容Cs组成的。 10 DRAM芯片的引脚信号 DRAM芯片增加的控制信号: RAS* 行地址选通信号 CAS* 列地址选通信号 ADD 地址信号,在芯片手册中通常表示为A0,A1,A2,…。 CS 芯片选择,低电平时表示该芯片被选中。 WE 写允许,低电平表示写操作,高电平表示读操作。 Dout 数据输出信号,在芯片手册中通常表示为D0,D1,D2,…。 Din 数据输入信号,也表示为D0,D1,D2,…。 OE 数据输出允许信号。 11 RAS~:行选通信号 CAS~:列选通信号 WE~:读/写控制,1为读,0为写 Din: 数据输入 Dout:数据输出 12 DRAM时序(一) 读周期: 行地址有效行地址选通列地址有效列地址选通数据输出行选通、列选通及地址撤销 13 DRAM时序(二) 写周期: 行地址有效行地址选通列地址、数据有效列地址选通数据输入行选通、列选通及地址撤销 14 DRAM时序(三) 刷新周期: RAS only:刷新行地址有效RAS有效刷新行地址和RAS撤销 CAS before RAS:CAS有效RAS有效CAS撤销RAS撤销 hidden:(在访存周期中)RAS撤销RAS有效 15 DRAM时序(四) 刷新周期: RAS only:刷新行地址有效RAS有效刷新行地址和RAS撤销 CAS befor RAS:CAS有效RAS有效CAS撤销RAS撤销 hidden:(在访存周期中)RAS撤销RAS有效 16 DRAM时序(五) 刷新周期: RAS only:刷新行地址有效RAS有效刷新行地址和RAS撤销 CAS befor RAS:CAS有效RAS有效CAS撤销RAS撤销 hidden:(在访存周期中)RAS撤销RAS有效 17 EPROM 可擦除可编程只读存储器 顶部开有一个圆形的石英窗口,用于紫外线透过擦除原有信息 一般使用专门的编程器(烧写器)进行编程 编程后,应该贴上不透光封条 出厂未编程前,每个基本存储单元都是信息1,编程就是将某些单元写入信息0 18 VPP ~CE ~OE ~PGM D0..D7 读方式 5V 0 0 0 输出 编程方式 12V 1 1 负脉冲 输入 检验方式 12V 0 0 0 输出 备用方式 5V × × 1 高阻 未选中 5V 1 × × 高阻 Intel 2764工作方式 19 EEPROM/E2PROM 电可擦除可编程只读存储器 在系统中是电可擦除的,擦写的电压比读入电压要高,通常为12V,擦写速度在毫秒量级,但仍比普通的RAM慢很多 不同厂家的EEPROM时序会有不同,要选择相应的EEPROM才能与芯片配合 20 Flash存储器 有E2PROM技术演化而来,读写速度更快、容量更大、成本更低。 必须以块为单位而非以字节为单位进行信息更新 分为NOR型和NAND型 NOR型:速度快,适合存储程序代码,支持程序直接在Flash存储器中运行 NAND型:容量大,集成度高 21 4.2 存储器的构成 22 位扩展 芯片的地址线数:18 存储器的结构256Kbx32 容量:1MB CPU的有效地址位数:20位字节地址 每个芯片的地址范围相同 23 字扩展 24 存储器芯片引脚数: 18 存储器结构:256kBx8 CPU有效地址线数:21 每个芯片的地址范围不同 25 字位扩展 26 例1 某计算机的主存地址空间中,从地址0000H到3FFFH为ROM存储区域,从4000H到5FFFH为保留地址区域,暂时不用,从6000
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