保护功能测试原理精选.pptVIP

Part one： 測試站別以及主要測試項目介紹 一. BMU test： 1.CAL test：EEPROM write，calibration etc。 2.SU test：protect function test。 二. Pack test 1.CorePccke test：Calibration，IT Enable，EEProm Write，Temperature check，Static Vcell Check，AFE OverCurrent in Discharge，ID check，Fast Charge Current，Over Charge Current Protection，Dynamic Vcell Check，Fast Discharge Current，Current Tolerance Check，EEProm Check，Register Check，Voltage Tolerance Check，Final Voltage Check 2. Final Test：Zero Current Check，meter IR、ID，Static Vcell Check，Temperature Tolerance Check，Dynamic Vcell Check，Fast DisCharge Current，Current Tolerance Check，Fast Charge Current，EEProm Write，EEProm Check，Register Check，Voltage Tolerance Check，Seal，Final Voltage Check Part two： 保護電路工作原理Battery protection function Block Diagram 2.1.1 OVP (Over Voltage Protection ) 2.1.2UVP (Under Voltage Protection ) 2.1.3　OTP (Over Temperature Protection ) 2.1.4　OCCP (Over Charge Current Protection ) 2.1.5 ODCP (Over Discharge Current Protection ) 2.1.6　ODCP (Over Discharge Current Protection ) 2.1.7　 Short Reverse Protection Part three： 測試基本架構 自動測試機台說明(一) 自動測試機台說明(二) 軟體實現原理 測試程式可對電池進行多個項目的測試，每個測試項目的軟体實現可分成3大步： Step1、測試準備測試程式通過DIO命令控制Relay Box進行測試儀器的搭接。 Step2、進行測試根據測試要求，程式通過GIPB，串口等命令控制測試儀器輸入或者輸出，通過SMBus，I2C等命令對電池IC進行讀寫操作，進行相應項目的測試。 Step3、測試結果測試程式依據參數檔中設定的條件進行測試結果的判斷，如果通過，則顯示Pass；否則，顯示錯誤代碼。 50PIN插頭接線方式 50PIN的一般接線方式 二段保護測試原理 SU站,測試治具須從BAT+------TP測試點間串接一個1M電阻,以便在測試時對TP點提供一個基準電壓,如下圖: 二段保護測試原理 二段保護芯片Bq29400的保護點為4.35±0.025V,測試時,我們通過6629對單串電壓進行調節: 1.使一串電芯的電壓為4.32V(保護芯片不保護),如測試到TP測試點的電壓在8-16.8V即PASS-------測試芯片保護點的功能是否正常; 2.使一串電芯的電壓為4.38V(保護芯片保護),如測試到TP測試點的電壓在0-1V即PASS-------測試芯片保護點的功能是否正常; 3.使一串電芯的電壓為4V(保護芯片不保護),如測試到TP測試點的電壓在8-16.8V即PASS-------測試芯片的保護恢復功能是否正常. 二段保護測試原理 SU站測試治具接線如下圖所示: DELL ALARM測試接線 DELL機種為了測試ALARMpin功能,會將46pin與connector ALERTpin連接,如下圖所圈線路 End, thanks!! End, thanks!! * * DynaPack 順達電子 Principle Of Pack Test---SU Made By Jade.Hu Discharge Mosfet Charge Mosfet + - + - + - + - + - + - Protection IC BQ29311 Ga