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* 国标GB4706常规试验研究 华凌股份有限公司.测试中心 GB4706.1-2005 GB4706.13-2008 IEC60335 2012.08 常规试验也称例行试验： 由产品制造商在每个产品上进行，用来监测有可能危及产品安全的生产波动的因素，通常在整机状态进行，如果后面的生产过程不会影响例行试验结果，制造商也可以在生产过程中适当的阶段进行试验。 注：如果一个产品未通过某项试验，则要在返工或返修后重新进行该项试验。 例行试验 发现过程波动 目的 A1.接地连续性试验（接地电阻） 定义： 接地端子或接地触点与易接触接地金属部件之间的连接，应具有低电 阻值。 方法： 从空载电压12V（交流或直流）电源获取25A电流（产品额定电流1.5倍 或25A，两者取较大值），让该电流在接地端子或接地触点与每个易触 及金属部件之间通过，该电流不会随着阻抗变化而影响。 通常采用电压/电流法测量： 记录： 对多个远端易触及接地金属部件部位进行测试，并记录测量电阻值， 并取最大值最为测试结果。 标准： 要求测试的接地电阻值小于0.1Ω。 应用理解： 测量接地电阻时，电源软线的阻抗不计算在内。 计算： 测量接地端子或接地触点与易触及接地金属部件之间的电压降，与25A 电流计算出的电阻值，即为接地电阻值。 注意点： 易接触接地金属部件选择： 尽可能选择与接地端子或接地触点最远端的接地金属部件。 测量探棒顶部与金属部件接触性： 测量探棒顶部应保持良好的接触性，与金属部件应无明显接触电阻值。 测量结果数据读取： 如果测试结果有波动，必须进行到稳定状态，读取测量数据。 企标要求： 量产检测与新品开发要求一致。 A2.电气强度试验（耐电压Withstand Voltage） 定义： 带电部件与易触及金属部件之间的绝缘连接结构，应能承受一 定的高 压冲击能力。 方法： 电源输出端连接带电部件与易触及金属部件，设置1750V50Hz，历时1S 的测试电源（工作电压115V产品测试电压设置1250V）。 通过泄漏电流的大小或峰值来判定是否为良品。 H/P DUT Arcing 泄 漏 過 載 CPU HV DUT R R L 记录： 测试电路中发生的泄漏电流值（分别测量L、N电源端与易触及金属 部件，两者取较大值）。 标准： 不能发生击穿，要求测量的电流值小于等于5mA。 计算： 施加于L、N与易触及金属部件之间的电压与两端之间的阻抗计算获得 的泄漏电流值。 注意点： 试验产品状态： 为了尽可能使测试电压施加到相应的绝缘结构上，需要使通过继电器 控制的部件处于工作状态，如化霜加热器等。 测试电路电流限值设置： 对带有高泄漏电流的产品，此电流限值可以放大至30mA。 绝缘结构为非金属材质： 如果易触及部位为非金属材质，则用金属箔覆盖表面。 企标测试电压设定： 量产检测：1800V/1S，15mA；量产抽检：1750V/1Min，15mA；新品 开发：1800V/1Min，15mA。 A3.绝缘电阻试验（绝缘阻抗） 定义： 带电部件与易触及金属部件之间的电阻值，通过绝缘电阻试验可以了 解绝缘结构性能、了解电器绝缘处理质量、了解绝缘潮湿及污染情况。 方法： 电源输出端连接带电部件与易触及金属部件，设置500VDC，历时1S的 测试电源。 计算： 施加于带电部件与易触及金属部件之间的电压后，测量发生的泄漏电 流值，通过欧姆定律计算获得电阻值。 记录： 测试电路中发生的电阻值（分别测量L、N电源端与易触及金属部件， 两者取较大值）。 标准： 要求测量的电阻值大于10MΩ。 注意点： 应用理解： 绝缘电阻测试为非破坏性试验，可以侦测绝缘性能是否良好。通常作 为绝缘性能的预测或作为电气强度测试后绝缘性能是否损伤的确认性 测试。 绝缘与耐压的关联： 当绝缘电阻过低，泄漏电流将会上升，导致电气强度不满足要求， 因此，通常先进行绝缘电阻测试，再进行电气强度测试。 企标电阻值设定： 量产检测：2S/大于10MΩ；量产抽检：60S/大于10MΩ；新品开发： 60S/大于30MΩ。 A4.泄漏电流试验 定义： 产品在正常工作状态下，通过绝缘部分或分布阻抗产生的与 工作无关 的电流，输入模拟人体阻抗进行测试。 方法： 通过输入1.06倍额定电压，在产品工作状态下，测量对地、对接触金属 部件、对相关部件的漏电电流，分别进行静态、动态极性交换泄漏电 流测试。 静态泄漏电流一：测量L端对地泄漏电流 静态泄漏电流二：测量N端对地泄漏电流 动态泄漏电流一：测量L端对地泄漏电流 动态泄漏电流二：测量N端对地泄漏电流 记录：分别记录各组测试数据，最终结果取最大值。 标准：要求测量的泄漏电流值小于3.5mA。 注意点： 应用理解： 电动产品与组合型产品以1.06倍