第4章 质量控制技术讲稿2.pptVIP

不合格品率的P图 尽管控制图大多数情况都与计量型数据联系在一起，但也开发了用于计数型数据的控制图，计数型数据只有两个值（合格/不合格，成功/失败，通过/不通过，出席/缺席），但它们可被计数从而用来记录和分析。下面我们以不合格品率的p图为例来对计数型控制图加以说明 步骤 A. 收集数据 B. 计算控制限 C. 过程控制解释 D. 过程能力解释 A.1选择子组的容量，频率及数量 子组容量——用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50到200或更多）以便检验出性能的一般变化。 分组频率——应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。 子组数量——收集数据的时间应该足够长，一般情况下，也应包括25或更多的子组（见图21） A.2计算每个子组内的不合格品率（p） 被检项目的数量——n 发现的不合格项目的数量——np 通过这些数据计算不合格品率： A.3选择控制图的坐标刻度 描绘数据点用的图将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标的刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍（见图21） A.4将不合格品率描绘在控制图上 描绘每个子组的p值，将这些点连成线通常有助于发现异常图形和趋势 当点描完后，粗览一遍看是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确 记录过程的变化或者可能影响过程的异常情况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部分（见图21） B.1计算过程平均不合格品率 对于k个子组，计算不合格品率的均值如下： B.2 计算上下控制限（ ） 对于k个子组，按下式计算上下控制限： 注：当 很小或者n很小时， 的计算结果有时会是负值，在这种情况下则没有下控制限（见图22-表1） B.3画线并标注 过程均值 ---------水平实线 控制限（ ）---------水平虚线 在初始研究阶段，这些被认为是试验控制限 注：当子组容量不同的时候，则要求单独计算这些特别小或特别大样本时期内的控制限 （见图22-表2） C.1分析数据点，找出不稳定的证据 超出控制限的点（见图23） 链（见图24） 明显的非随机图形（见图25） C.2寻找并纠正特殊原因 当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然后纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或者现场检验员有能力发现变差原因并纠正（见图26） C.3重新计算控制限 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以便排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。剔除与特殊原因有关的点以及本节B部分图上所指的点后，应重新计算控制限。本步骤是防止在估计典型的变异性时包括发生异常的生产时期。应再次对照修改后的控制限检查历史数据，以确认不再有表明可查明原因的点（见图26） D.1计算过程能力 对于P图，过程能力是通过过程平均不合格品率 来表示，当所有的点都受控才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比率（ ）来表示 对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点 当正式研究过程能力时，应使用新的数据点，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制 D.2评价过程能力 刚计算的过程能力反映该过程生产和可能预期生产的现阶性能水平，只要过程保持受控状态并且在性能上不经历任何基本的改变，则过程会并且能够按现有水平运行 这是评价能力，而不是波动的单值，必须对照管理上对于特殊性的期望来评价 D.3改进过程能力 过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反映了该系统的变差原因——过程能力。在操作上诊断特殊原因变差问题的分析方法不适用于诊断系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 D.4绘制并分析修改后的过程控制图 当对过程采取了系统措施后，其效果应在控制图上明显地反映出来，控制图成为验证措施有效性的一种途径 对过程进行改变时，应小心地监视控制图。这个变化时期对系统操作会是破坏性的，可能造成新的控制问题，掩盖系统变化后的真实效果 在过程改变期间出现的特殊原因变差被识别并纠正后，过程按一个新的过程均值处于统计控制状态，这个新的均值反映了受控状态下的性能，可作为现行过程控制的基础，但是还应继续对系统进行调查和改进 控制图分类 正态分布（计量值）?? 均值—极差控制图 均值—标准差控制图 中位数—-极差控制图 单值—-移动极差控制图 控制图分类 二项分布（计件值）?? 不合