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一、 CT图像性能指标 (四)断层厚度、灵敏度剖面和剂量剖面 根据美国等发达国家的质量保证要求， 层厚是CT机质量保证检测的月检项目，因为 它关系到Z轴分辨力等重要参数。 CT机的断层厚度是通过调节准直器来实 现的。探测器组的准直器孔径必须小于探测 器的探测孔径。在采用相同的mA、kV、扫描 时间成像时，探测器的光子数随着层厚的加 宽而呈线性地增加。 一、 CT图像性能指标 如把层厚从lmm增大到3mm，则探测 器得到的光子数也将增加3倍。 当探测器x射线光子数增加时，重 建图像的噪声将减小(信噪比增加)。 但小的层厚可以改善空间分辨力， 并且可以减小容积效应伪影。 一、 CT图像性能指标 2、层厚的测量方法 (1)测量工具： 　美国体模实验室 生产的Catphan体模 是扫描体模中斜置 一金属丝，然后用 几何投影原理（斜 面法）来测量层厚。 一、 CT图像性能指标 (2)测量原理： 该体模的层厚测试模块内嵌有一定 方向的钨丝，斜线与模块上下底面的 夹角为23°，扫描层的厚度为Zmm，斜线 的像长度X是扫描层内斜线真实长度在 模块底面平行的平面上的投影。 因此，层厚 z = x tan23° 二、伪影 1．伪影定义： 它是在实际物体 被扫描时，重建后的 图像中出现了在实物 中不存在的成分。 这些异常影像降 低了图像质量，甚至 影响对病变的诊断。 二、伪影 虽然在理论上可以证明，假如一个 物体在所有角度上的投影都已知的话， 则其横断面就能被正确地重建，然而在 许多情况下，物理测量不能够正确地获 得投影数据，这样导致最后的重建图像 产生伪影。 二、伪影 2．伪影的产生原因、类型及解决方法 分析和判断伪影的形成原因，认识伪影的 各种特征，才能迅速排除问题，最大限度的减 少因伪影而产生误诊的机会。 CT图像的伪影按其产生原因主要分为硬件 系统故障或误差因素和人为因素两类。 二、伪影 硬件故障或误差因素伪影： 一般是由于设备运行不稳定或某一元器 件损坏所造成。如探测器之间的响应不一致， 可造成环状伪影；采样频率较低也可产生直 线状伪影；射线硬化效应，则可产生宽条状 伪影。 二、伪影 依照CT的构成，硬件故障或误差因素伪影 大致来自以下几个方面： (1)Ｘ线扫描系统：包括高压部分、Ｘ线球管、 滤线装置等。Ｘ线输出不稳定或是不能均匀 排布都会引起数据的紊乱，引起伪影如： Housfield伪影(条状伪影)； X射线硬化而引起的伪影(帽状伪影)； 散射效应引起的伪影； 二、伪影 Housfield伪影： 图像上的高密度物质区域产生 较严重的条状伪影。 消除方法: 提高X射线强度以提高信噪比，减少 测量误差。 X射线管老化,辐射量下降,就会使图像质量 恶化,实际上是投影数据信噪比下降。这时 应更换新的X射线管。以保证图像质量。 二、伪影 X射线硬化而引起的伪影 产生原因: CT机中所用X射线源光子能量不一,所得到的 投影数据是多色光的投影数据，若直接用此 数据去逼近单色光, 重建后的图像上会产生 “环状”或“帽状伪影 解决方法: 是采用补偿滤线器或软件算法减少这类伪影 的影响 二、伪影 散射效应引起的伪影： 产生原因: 原发X射线撞击人体或阻挡物产生散射线。 散射效应的影响与线束硬化效应相同，它们产生的伪影也很类似。但与原子序数无关，和线束探测器无关。 解决方法: 根据散射系数校正表进行校正。 二、伪影 (2)数据采集及传输系统：包括探测器、 通道放大板、A/D转换板、控制和传输 系统等，引起的伪影如： 部分体积效应伪影； 检测器灵敏度变化和不一致性 伪影(环状伪影)； 空间采样频率不够高伪影(混淆伪影)； 边缘梯度伪影(条纹伪影)； 几何未校准伪影； 二、伪影 部分体积效应引起的伪影 产生原因: 同一个检测器上有一半高密度的检测数据，而另一 半为低密度的检测数据, 输出信号不能准确地反映 人体某一体积的真实密度，用这样数据重建出来的 图像所产生的伪影称为 部分体积效应伪影。 解决方法: 通常采用减小检测器面积 例采用薄层扫描和正确摆放 病人的体位等方法来减少 部分体积效应对图像的影响 二、伪影 环状伪影 产生原因: 每个探测器与X射线管的相对位置是不变的，检测器 灵敏度的变化和不一致性极易产生环状伪影。 解决方法: 提高探测器的稳定性和一致性。 利用CT机中专门配备有校正检 测器性能的软件进行空气校正。 二、伪影 边缘增强伪影 产生原因: 与系统分辨力和卷积频率特性有