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原位微区X射线荧光光谱分析装置与技术研究进展.pdf

2011年6月 岩 矿 测 试 V01.3O.No.3 June2011 R0CK AND MINERALANALYSIS 375~383 文章编号:0254 5357(2011)03—0375—09 原位微区x射线荧光光谱分析装置与技术研究进展 许 涛,罗立强 (国家地质实验测试 中心,北京 100037) 摘要:原位微区x射线荧光(Micro—XRF)光谱分析技术是x射线光谱学领域一重要分支。近年来x射线毛细 管光学透镜聚焦技术不断进步,以实验室x光源为基础的原位微区x射线光谱分析装置与应用技术快速发展, 已成功应用于多领域样品的原位、多维、动态和非破坏性微区分析。文章介绍了近年来x射线毛细管光学透镜 技术发展和原位微区x射线光谱分析装置研制进展,对近年来micro—XRF光谱分析技术在大气气溶胶颗粒物 分析与来源识别、考古样品产地和真伪鉴别、古气候古环境重建研究中沉积纹层样品元素分析,以及刑侦科学中 指纹样品的鉴定等应用领域进行了系统介绍,阐述了miero—XRF光谱分析技术性能的影响因素(空间分辨率和 强度增益)。micro—XRF光谱分析技术不仅可以获取样品表面的信息,还能够获取样品内部的信息,成为 目前国 际上一 门迅速发展的竞争技术。我国在毛细管透镜制造技术与性能研究,以及micro—XRF应用领域取得 了重要 进展 。由于x射线焦斑尺寸对能量的依赖性 以及样品基质对 x射线的吸收效应,在微区定量分析 中易引入较大 误差,利用 x射线毛细管透镜获取更小光斑尺寸与高稳定性的x射线光束,提高micro—XRF分析技术的空间高 分辨率性能和对基体效应进行校正实验将是今后一个重要的研究 目标和分析研究难点。 关键词:聚毛细管透镜;X射线荧光光谱仪;微区分析技术;X射线聚焦 DevelopmentsofM icro-·X -·rayFluorescenceSpectrometerandApplications xu Tao,LUO Li—qiang (NationalResearchCenterforGeoanalysis,Beijing 100037,China) Abstract:AdvancesofX—raycapillaryopticssystemshaveled torapid developmentsofmicro—X—rayspectrometry in recentyears.Developmentsofmicro—X—rayfluorescencespectrometry (Micro—XRF)withX—raycapillary opticswere reviewedhere,andthefactorsaffectingmicro—XRFspectrometerperformancediscussed.Theapplicationsofmicro—X—ray fluorescence spectrometry to environments, geology, biology, paleoenvironmental reconstruction and forensic investigationsoffingerprintwereintroduced. Keywords:phthalateesters;X—rayfluorescencespectrometer;microanalyticaltechnique;X ·ray~cusing 原位微区x射线荧光光谱分析 (micro—XRF)是 用技术,应用范围已涉及环境、考古、地学、生物医学、刑 x射线光谱分析领域的一个重要分支 。自20世纪90 侦、材料、以及工业质量控制等研究领域 。我国紧 年代以来,以XRF分析理论为基础,尤其伴随同步辐射 跟国际前沿,在聚焦透镜制造、性能测定、原位微区x射 光源和x射线聚焦技术的发展与应用,原位微区XRF 线装置研制等领域取得重要进展 ,成功用于考古、 分析技术迅速发展,成为 目前国际上竞相发展的一门应 环境等领域样品micro—XRF分析。 收稿 日期 :2011—03—18;修订 日期:2011—05—10 基金项 目:国家 自然科学

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