x射线大纲要求.doc

X-ray的性质 目的：掌握X-ray的性质 要求：掌握X-ray的基本性质，连续、特征X-ray谱产生的机理，以及X-ray与物质的相互作用。 重点、难点：掌握X-ray的基本性质，连续、特征X-ray谱产生的机理，以及X-ray与物质的相互作用。了解X-ray发展历史及防护，了解X-ray在现代材料分析中的重要用途。 英语词汇：diffraction\wave’length\target\intensity\filter\Auger effect\ 思考题：X-ray与物质的相互作用能产生哪些信号？ 连续、特征X-ray谱的强度、波长与哪些因素有关？ X-ray产生的基本条件？ 作业题：课后习题。 参考资料： 《X射线晶体学导论》[英]M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。 《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。 《材料评价的分析电子显微方法》[日]进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。 《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。 X-ray衍射方向 目的：掌握X-ray衍射方向的基本原理—布拉格方程。 要求：在学习晶体几何学的基础上，掌握X-ray衍射原理以及衍射方向与布拉格方程的关系。 重点、难点：复习、掌握晶体几何学基础，理解X-ray衍射的条件与原理----布拉格方程的导出，掌握布拉格方程的意义与应用，理解不同X-ray衍射方法的特点，了解X-ray衍射发展历史。 英语词汇：amorphous\lattice point\space lattice\unit lattice\unit cell\crystallographicaxis\lattice parameter\incident angle\wave frant\Bragg’s law\reflection\angle of diffraction\structrue analysislaue method\rotating-crystal method\power method 思考题：布拉格方程的意义与应用? 不同X-ray衍射方法的区别？ 作业题：课后习题。 参考资料：《X射线晶体学导论》[英]M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。 《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。 《材料评价的分析电子显微方法》[日]进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。 《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。 X-ray衍射强度 目的：掌握影响X-ray衍射强度的计算、表征方法和影响因素。 要求：学习结构因子的意义、计算方法及重要性，了解各种影响因素，掌握积分强度的意义。 重点、难点：掌握结构因子的意义、计算方法及重要性，掌握几种点阵的消光规律、衍射峰半高宽计算晶体尺寸的方法。了解各种影响因素，掌握结构因子的表征意义、积分强度的意义。 英语词汇：integrated intensity\structure factor\polarizatio factor\incoherent scattering\inelastic scattering\atomic scattering factor\temperature factor\preferred orientation\mosaic structure 思考题：晶胞哪些因素影响衍射强度？ 计算面心立方、体心立方的消光规律？ 衍射峰半高宽计算晶体尺寸的方法？ 作业题：课后习题。 参考资料：《X射线晶体学导论》[英]M.M.乌尔福逊著，科学出版社，1981年。 《X射线结构分析材料性能表征》藤风嗯、王熠明、姜小龙，科学出版社，1997年。 《材料评价的分析电子显微方法》[日]进藤、及川等著，冶金工业出版社，2001年。 《电子衍射图在晶体中的应用》郭可信、叶恒强、呈玉琨著，科学出版社，1983年。 多晶体分析方法 目的：掌握X-ray衍射最基本的实验方法和装置。 要求：学习、掌握粉末法的试样制备方法、照相法及衍射花样指数化、X-ray衍射仪的结构、计算测量方法、点阵常数的精确测定、误差的校正等。 重点、难点：掌握粉末法的试样制备方法、照相法及衍射花样指数化、X-ray衍射仪的结构、计算测量方法、点阵常数的精确测定、误差的校正。理解衍射仪的工作原理，误差来源，相机的分辨本领、实验参数的选择。了解X-ray探测器的工作原理、测量中的主要电路、误差的数学修正方法。 英语词汇：Debye-scherrer method\focusing method\pinhole method\diffractometer\