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第三章 第二节 Pro/E实体特征的制作（二） 一、Sweep特征绘制步骤 P225 二、选择扫描方式 三、扫描特征制作举例1 四、绘制Sweep实体特征的注意事项 1、截面不可互相交错 2、截面沿轨迹扫描的过程中产生干涉的情形，通常都是由截面与轨迹之间的关系定义不当所导致。如截面的半径过大等 3、如果希望端点与实体融合，轨迹线必须与已存在的实体相接触。 五、可变截面特征的制作Variable Section Sweep （2）轨迹线的种类 （3）剖面控制 （4）使用变截面扫描时的注意事项 2、变截面扫描创建特征步骤 3、变截面扫描创建特征举例2 4、变截面扫描创建特征举例3 5、可变截面扫描举例4 6、变截面扫描创建特征举例5 用图形约束截面 7、变截面扫描创建特征举例6 8、变截面扫描创建特征举例7 9、变截面扫描创建特征举例8 五、作业1 作业2 作业3 * * 打开知识的大门 这是建立的轨迹线 这是建立的剖面 最后生成的三维图 1. 【插入】 ? 【扫描】 ?【伸出项】 2. 【绘制轨迹线（Sketch Traj）或选择轨迹线(Select Traj) 】 ? 【进入Sketch绘剖面】 ? 【对话框中OK完成特征建立】 P224 a、绘制开放轨迹时，其截面一定要封闭。如果轨迹与已存在的实体相接触，系统会问是自由端点还是融合端点。 b、绘制封闭轨迹与开放截面时，在属性菜单中必须选择增加内部因素（Add Inn Fcs） c、绘制封闭轨迹与封闭截面时，在属性菜单中必须选择无内部因素（No Inn Fcs） 开放的截面增加内部表面 封闭的截面无内部表面 菜单[插入]—[扫描]命令未完成向操控面板的转化，野火版在扫描方面提供了整合命令—可变截面扫描 ，此命令中当选择恒定剖面时，相当于菜单中的插入—扫描。 可变截面扫描是采用扫描轨迹线控制草图剖面，在草图剖面沿原点轨迹扫描时保持与其他轨迹线之间的几何关系，从而形成多变的模型。 （1）命令按钮的含义 1、基本概念 ◆原始轨迹线（OriginTrajectory）剖面的圆点落在此轨迹线上 ◆X轨迹线（X-vector rajectory）定义剖面X- 轴的走向（Z轴指向屏幕外） ◆其它轨迹线 第一条轨迹线被认为是原始轨迹线。 轨迹线可用基准曲线按钮 绘制 选择多条轨迹按ctrl键 a、草图截面的Z轴方向（法向）控制 垂直于轨迹—截面垂直于原始轨迹 垂直于投影—截面垂直于轨迹在某平面上的投影，投影的方向需选参照 恒定的法向—截面的方向恒定,一直于某一个方向一致b、草图截面的X轴方向控制 指定另一条曲线作为X向轨迹线 该方向的控制通过参照选项区的水平/垂直控制实现 a.特征建立过程中，选择或建立的第一条轨迹为轨迹线，其余为轮廓线。选择多条轨迹时按住ctrl键。 b.选择轨迹线时要注意起点箭头的位置，该位置为绘制截面的位置，可使用起始点更改起点箭头的位置。点击箭头可换向。或选择新的起始点—选菜单[草绘]—[特征工具]—[起始点]。 c.除终点外轮廓线不得与轨迹线相交。 d. 所有的轮廓线都要通过绘制截面的平面，但其长度不一定要与轨迹线相同，最后特征的长度将与轨迹线或轮廓线中最短者相同。 e.当轮廓线无法与截面的绘图面相交时，则必须额外定义基准点当作起始点。 步骤1 建立一个新文件和三个默认的基准DTM1、DTM2、DTM3 步骤2 用 草绘指令分别建立四条轨迹曲线（否则因有交点而交叉）：三条在TOP基准面上，一条在FRONT基准面上。（点击箭头可改变方向；右键菜单选择起始点） 例一 步骤3 用4条基准曲线作为可变截面扫描的轨迹线以建立实体特征。 ◆命令：插入-可变截面扫描-参考- 垂直于轨迹 ◆选择原始轨迹线 ◆（CTRL键）选择轨迹线- X ◆选择其他控制迹线 2、变截面扫描创建特征步骤 步骤4 单击仪表盘 - 2D绘制截面图-完成截面图绘制 操作演示 2、变截面扫描创建特征步骤 用轨迹约束截面 Variable Section Sweep FRONT面 TOP面 剖面与轨迹 没有定义数学关系式 Sd4=60+50*trajpar 注：Trajpar=0~1 Sd4=60+50*sin(trajpar*360) 用公式约束截面 信息—切换尺寸 工具—关系 a、草绘轨迹线为圆-top绘图面（直径160圆）-完成 b、变截面扫描-薄板伸出项-截面垂直于原始轨迹