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2006 第 10 屆科際整合管理研討會 回主目錄 MAY 27, pp320~329 利用田口方法改善液晶顯示器配向膜印刷均勻度 李明賢 張百辰 逢甲大學工業工程及系統管理研究所教 逢甲大學工業工程及系統管理研究所研 授 究生 mhli@fcu.edu.tw hmmay5430@seed.net.tw 摘要 液晶顯示器(Liquid Crystal Display, LCD)的配向膜(Atomic force microscopic )印刷製 程,是利用樹脂版將配向膜液體均勻印刷在氧化銦錫(Indium Tin Oxide, ITO)玻璃板上, 而在配向膜印刷製程中,普遍存在印刷膜厚變異過大的問題,使得 LCD 顯示時有殘留影 像之品質異常,因此配向膜膜厚均勻度為關鍵品質特性。本研究的目的乃是利用田口參數 設計之方法,將影響配向膜膜厚均勻度之 4 個控制因子,運用 L18 直交表進行實驗,找出 製程參數之最佳水準,使得印刷膜厚均勻度之變異降為原來之百分之六以下,提高製程良 品率,並將原本之配向膜膜厚均勻度公差由±100Å 縮小為±30Å,因而提昇液晶顯示器之競 爭力。 關鍵字:田口方法、配向膜、液晶顯示器 Minimize thickness variation in AFM printing process of Liquid Crystal Display using Taguchi Method Ming-Hsien Li Pai-Chen Chang Department of Industrial Engineering and Department of Industrial Engineering and Systems Management, Systems Management, Feng Chia University Feng Chia University mhli@fcu.edu.tw hmmay5430@seed.net.tw Abstract The Atomic force microscopic (AFM) printing process of Liquid Crystal Display (LCD) is using a resin plate to make AFM liquid printed evenly on glass of Indium Tin Oxide (ITO). Too large thickness variation in AFM printing process is a serious quality problem which may result in a residual image shown on LCD. Thus, thickness variation is considered the smaller-the-better type quality characteristic which is criti
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