高速SI测量方法(10G信号).pdf

高速 SI 测量方法 2 1 前言 2 2 SFI 2 2.1 SFI 标准 2 2.2 电气特性 2 2.3 测试仪器 5 2.4 测试方法 5 2.4.1 搭建测试环境 5 2.4.2 启动 DUT 7 2.4.3 选择 BCM#模式 7 2.4.4发送PRBS 码 7 2.4.5 调节预加重参数 7 2.4.6 调节预加重驱动 8 2.4.7 保存结果 9 2.5 测试命令 9 2.6 测试结果 9 3 XFI 10 3.1 XFI 标准 10 3.2 电气特性 10 3.3 测量仪器 12 3.4 测试方法 13 3.4.1 测试环境搭建 13 3.4.2 启动 DUT 15 3.4.3 选择 BCM#模式 15 3.4.4 发送 PRBS码 15 3.4.5 调节预加重参数 15 3.4.6保存测试结果 16 3.5 测试命令 16 3.5.1 MAC_TX TEST 16 3.5.2 PHY_TX TEST 16 3.6.测试结果 16 4 KR 18 4.1 测试方法 20 4.2 测试命令 20 4.3 测试结果 21 5.总结 24 5.1 测试注意事项 24 5.2 眼图测试总结 25 高速 SI 测量方法 1 前言 在速率达到10Gbps 高速设计中，尽管我们在电路设计上按照标准设计，但在信号的传输过 程仍不可避免会受到串扰等的影响，由此我们需要去做信号完整性分析，以验证我们设计的正 确性，而眼图是一种可对数字信号传输作定性分析的有效手段。以下所介绍就是关于10G信号接 口SFI、XFI、KR的SI测量方法。 2 SFI 2.1 SFI 标准 SFF-8431定义了SFI的电气特性及测试方法。 2.2 电气特性 在SFF-8431中SFI被定义了以下三种模型： ① Host System Figure1Host Compliance Board ② ASIC/SerDes Figure 2ASIC/SerDes Test Board ③ Module