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微加速度计制造分析

微加速度計製造 分析 黃忠仁 Jong-Zen Huang 南台科技大學機械工程系 Department of Mechanical Engineering Southern Taiwan University of Technology Tainan, TAIWAN 國科會計劃編號: NSC 90-2212-E-218-007 摘要 合時表面光滑度與對準的問題 [5] ,而其中又以 微機電技術已漸漸趨於成熟,其藉由半導 電容式微加速度計所具有的高準確性與高敏感 體製程為基礎發展微型元件,使得其具有體積 度較廣為使用,結構方面又較壓阻式微加速度計 小、批次製造及成本低廉的特性,且市面上已有 簡易,且目前已有雙軸向性之商用產品 許多發展成熟的商用產品,而微加速度計便是其 (ADXL202)[6] ,該產品成功地整合CMOS 製程技 中一項,目前微加速度計廣泛用於各種商用產 術與微結構的製作,但在整合 CMOS 製程之前會 品,例如汽車上保護車內人員免受衝撞的安全氣 面臨到許多問題,例如商業標準的 CMOS 製程 囊、地震儀的主要元件、機台震動問題的檢測等 中,除非製程廠商願意更改其製作程序以及製程 等…. ,雖然其已受到廣泛使用,但是在許多方 參數,否則各薄膜的沈積順序、材質以及厚度都 面仍然存有許多值得探討的問題,因此本研究主 是固定不變的,因此使用 CMOS 製程所容易遇到 要針對於電容式微加速度計進行討論,並藉由微 的困難有以下幾點: (1)CMOS 製程不允許更改製 機電軟體以及有限元素模擬進行結構之最佳化 作流程 (2)厚度控制上較為麻煩 (3)後製程時 設計以及配合 MPMC 共用晶片標準製程進行模擬 之蝕刻方式與蝕刻液的選擇性,然而這些問題均 與製造,以期製作出較佳之微加速度計。 已被解決 [7],但是由於CMOS 製程與面型微加工 技術具有深寬比不足之缺點,另一方面體型微細 關鍵詞:高強度六角螺帽、製程道次、預成形、 加工技術又具有體積較大且浪費材料之缺點,因 製程設計 此上述之加工技術較難符合多軸向性電容式微 加速度計所需要之較大之感測電容面積的需 一、前言 求,因此本研究將主要針對於製作多軸向性之電 以矽為主的微加速度計使用面型微加工技術已 容式微加速度計做研究探討,並以面型微加工為 有許多相關的研究 [1-3] ,其相較於體型微加工 基礎,進而推展至高深寬比結構以及 CMOS 製程 技術 [4]具有較結構較小、製作流程簡易且無接 技術。 目前較常見之高深寬比技術大略可分為二 在完成了單軸向性的微加速度計的設計後,進而 種類型,其最主要是起源於 LIGA(Lithography, 推廣至雙軸向微加速度計,其主體架構如圖(二)

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