电子设备中机内自检BIT的的设计.pdfVIP

维普资讯 《现代 电子技术》ZOO1年第12期 电子设备中机内自检BIT的设计 刘世 军 (信息产业部第二十七研究所 郑州 450005) 摘 要 舟绍丁电子设备中BIT的应用和类型，着重阐述了BIT设计中的要求和奈度、环绕 特征分析和模 拟等几项关键技术 ，讨论 了BIT技术 目前存在的虚譬问题厦减少的几种措施 。 关键词 电子肇备 BIT 故障检刹 虚譬 现代电子设备越来越复杂 ．特别是在众多的大 比较多。其主要缺点是采样电路走线长，而且容易 型电子设备中越来越多的大规模集成 电路等新技 通过中心处理和互相串扰 ，产生较高的虚警 术 ，一旦设备出现障碍，故障检测、隔离时间长 ，维 分布式 自检是指装备 中各主要分机 ．各 自设置 修工作量将迅速增加 ，因此它的安全可靠运行和快 自检电路，检测、隔离的结果由各分机面板显示，也 速维修就显得极为重要 。随着计算机技术 的应用和 可以送到中央计算机控制板上集 中显示 。现代电子 发展，一种依靠电子装备 自身的电路和程序完成故 装备由于结构复杂 ，因此常用分布式自检。 障诊断、故障隔离的技术 (BIT：built—intest)也 1．2 电子装备中BIT设计方法 得到了广泛应用 它能对设备／系统 内部的障碍进行 在电子系统装备之韧 ，就应把机内自检 (BIT) 自动检测、诊断和隔离 ，大大提高电子装备 中的故 技术做为系统的一种主要设计特性应用到研制周期 障诊断效率和准确性，从而降低维护费用，提高电 的各个阶段，在BIT设计时应遵循 以下要求 ： 子装备的可用性 完成这种功能的设备叫机内自检 (1)电子装备的关键功能必须由BIT进行监控 。 设备 (BITE：built—intestequipment)。 (2)设计时应充分利用电子设备中的固有资源， 从2O世纪6O年代以来，得到了广泛的应用 ，特 特别是计算机的功能，在不增加或尽量少增加机内测 别是近几年来在我国某些先进 的电子设备中采用 了 试电路和装置的前提下，完成应有的测试任务。 综合诊断技术和人工智能技术，大大提高了故障诊 (3)电子装备各分机中的所有单元的诊断测试 ， 断系统的能力，使常规的三级维修变为二级维修 ，减 应能完成对单元的性能、关键技术指标的测试及评 少了维修人力及使用保障费用。 估 ，并可将故障隔离到外厂可更换单元 (IRu)。在 电子设备中机内自检 (BIT)的设计是综合维修 任何地方都应保证可随时中断每个测试 ，然后自动或 诊断的基础 ，要达到电子设备的综合诊断 目标 ，在 通过操作人员选择重新开始启动测试。 产品研制初期就必须认真进行机 内自检 (BIT)的设 (4)在进行机内自检测试 (BITE)设计时，要 计 ，并加强从设计到使用 的全过程管理。 求BITE的可靠性应比所监控电路的可靠性高一个 数量级 ，如果BITE电路的故障率较高，那么就会对 l 电子装备中的BIT设计 整个装备的可靠性带来严重影响。 1．1 电子装备 中的BIT类型 (j)BIT容差的设定应保证在预期的工作环境 在进行BIT设计之前 ，首先要弄清你所设计的 中故障检测率最大而虚警率最小。 BIT的特性，若从故障信息的处理和显示方式来分， (6)在电子装备中的BITE开始运行前，应首先 主要分为集