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201210319845-一种在平面子孔径...-申请公开.pdf
SooPAT
一种在平面子孔径拼接测量中调
整被测镜倾斜的装置和方法
申请号:201210319845.8
申请日:2012-08-31
申请(专利权)人 中国科学院光电技术研究所
地址 610209 四川省成都市双流350信箱
发明(设计)人 徐富超 谢伟民 贾辛 邢廷文
主分类号 G01B11/24(2006.01)I
分类号 G01B11/24(2006.01)I
公开(公告)号 102788563A
公开(公告)日 2012-11-21
专利代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251
代理人 杨学明 卢纪
注:本页蓝色字体部分可点击查询相关专利
(19)中华人民共和国国家知识产权局 *CN102788563A*
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 102788563 A
(43)申请公布 日 2012.11.21
(21)申请号 201210319845.8
(22)申请 日 2012.08.31
(71)申请人 中国科学院光电技术研究所
地址 610209 四川省成都市双流350 信箱
(72)发明人 徐富超 谢伟民 贾辛 邢廷文
(74)专利代理机构 北京科迪生专利代理有限责
任公司 11251
代理人 杨学明 卢纪
(51) Int.C l.
G01B 11/24 (2006.01)
权利要求书 2 页 说明书 4 页 附图 4 页
权利要求书2 页 说明书4 页 附图4 页
(54) 发明名称
一种在平面子孔径拼接测量中调整被测镜倾
斜的装置和方法
(57) 摘要
本发明公开了一种在平面子孔径拼接测量中
调整被测镜倾斜的装置和方法,该装置包括菲索
移相干涉仪,标准镜,半透半反镜,被测镜,激光自
准直仪,二维平移台,倾斜调整装置,转台,平面反
射镜,计算机,探测器和聚焦透镜,利用该装置在
第一子孔径位置处进行调平,并建立被测镜和标
准镜平行的基准点,然后再在其它子孔径位置处,
以此基准点为基准计算被测镜的倾斜量,然后再
对被测镜的位姿进行调整,从而减小子孔径面形
中的倾斜量,提高平面子孔径拼接测量的精度。
A
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CN 102788563 A 权 利 要 求 书 1/2 页
1. 一种在平面子孔径拼接测量中调整被测镜倾斜的装置,其特征在于:包括菲索移相
干涉仪(101),标准镜(102 ),半透半反镜(103 ),被测镜(104 ),激光自准直仪(105 ),二维
平移台(106 ),倾斜调整装置(107),转台(108 ),平面反射镜(109 ),计算机(110 ),探测器
(111)和聚焦透镜(112 ),其中转台(108 )、二维平移台(106 )、倾斜调整装置(107)的中心有
一通光孔(113 );半透半反镜(103 )与菲索移相干涉仪(101)的光轴成45 度夹角,平面反射
镜(109 )与转台的转轴成45 度夹角;探测器(111)放在聚焦透镜(112 )的焦点处;计算机
(110 )分别与菲索
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