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制造科技基于粗糙集理论的半导体测试参数提取技术戴敏史金飞曹杰张志胜东南大学机械工程系摘要本文针对半导体测试中存在的测试参数繁多经验选择的不确定性等问题运用粗糙集理论构造测试参数选择的知识系统通过对跑片数据的预处理连续属性的离散化属性约简最终提取规则具体解决了三极管测试参数的选择问题提高了三极管测试的生产效率该方法有一定的实用价值和参考意义关键词粗糙集半导体测试参数选择引言随着电子技术的高速发展半导体行业产品的种类越来越多客户对产品的需求也越来越复杂半导体生产企业为了在激烈的市场中能够立于不败之地
制造 科 技 ·761 ·
基于粗糙集理论的半导体测试参数
提取技术
戴 敏 史金飞 曹 杰 张志胜
(东南大学机械工程系)
摘 要 本文针对半导体测试中存在的测试参数繁多、经验选择的不确定性等问题，运用粗糙集
理论，构造测试参数选择的知识
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