工作曲线法和偏最小二乘回归分析在犡犚犉定量分析软玉样品中的应用.PDF

， ， ， 第 卷 第 期 光 谱 学 与 光 谱 分 析 ３５ １ Ｖｏｌ．３５Ｎｏ．１ ２４５２５１ 　 　　　　　　　　　　　 ｐｐ 年 月 ， ２０１５ １ Ｓｅｃｔｒｏｓｃｏ ａｎｄＳｅｃｔｒａｌＡｎａｌｓｉｓ Ｊａｎｕａｒ ２０１５ 　　　　　　　　　　　 　 ｐ ｐｙ ｐ ｙ ｙ 　 工作曲线法和偏最小二乘回归分析在犡犚犉定量分析软玉样品中的应用 １ ２ １ １ ， ， ， 刘 松 苏伯民 李青会 干福熹 　 ， １．中国科学院上海光学精密机械研究所科技考古中心 上海 ２０１８００ 　 ， ２．敦煌研究院 甘肃 敦煌 ７３６２００ 　 ， （ ） 摘 要 由于块状固体标准玉石样品的缺乏 造成了便携式 射线荧光分析技术 利用工作曲线法对 Ｘ ＸＲＦ 　 　 ｐ 。 ， 玉石文物样品进行无损定量分析的困难 试图寻找一种 ｐＸＲＦ可采用 但不需要块状固体玉石标准样品的 。 ， ， 。 定量分析方法 选取 件软玉样品 其中 件为校准样品 件为测试样品 所有软玉样品利用质子激发 ２４ １７ ７ （ ） 。 Ｘ射线荧光分析技术 ＰＩＸＥ获得定量分析结果 根据校准软玉样品的ＰＩＸＥ定量分析结果建立兴趣元素的 ， ； ， ， 工作曲线 利用工作曲线对测试软玉样品进行定量分析 然后 利用 ｐＸＲＦ对所有软玉样品进行定性分析 ， ， 获得其定性分析图谱 利用校准软玉样品的定性分析图谱和 ＰＩＸＥ定量分析结果 采用最小偏二乘法对测试 。 ， 、 软玉样品兴趣元素含量进行分析 最后 将工作曲线法 ＰＬＳ方法和 ＰＩＸＥ的定量分析结果进行了相互对 。