ALT$HALT简介.docVIP

ALTHALT简介 目录 1 案例描述 2 1.1 ALTHALT介绍 2 1.1.1 ALT 2 1.1.2 HALT 2 1.2 ALT与HALT区别 3 1.3 ALT举例说明 3 1.4 HALT特性 7 1.4.1 HALT测试条件 7 1.4.2 HALT优点及局限性 7 1.5 HASS简介 8 2 案例分析 9 3 解决过程 9 4 解决结果 9 5 总结 9 关键词： ALT HALT HASS 可靠性 摘 要： 随着电子设备的飞速发展，可靠性问题也越来越尖锐，传统的可靠性环境模拟试验已远远 不能赶上现代电子设备发展的步伐。HALT作为一种激发试验的方法，把故障或失效当作研究 的主要对象，通过激发、研究和根治产品缺陷达到提高可靠性的目的；本文对ALT和HALT做 了一些介绍，并阐述了两者的区别，让大家对其有一定的认知。 案例描述 ALTHALT介绍 ALT ALT是加速寿命测试（Accelerated Life Testing）的英文缩写是指采用加大应力的方法促使样品在短期内失效，以预测在正常工作条件或储存条件下的可靠性，但不改变受试样品的失效分布。目的不是暴露缺陷，而是识别及量化在使用寿命末期导致产品损耗的失效及其失效机理有时产品的寿命很长，为了给出产品的寿命期，加速寿命试验必须进行足够长的时间。ALT试验的对象是抽样产品提供了产品预期磨损机理的有价值数据，这在当今的市场上是很关键的，因为越来越多的消费者对其购买的产品提出了使用寿命要求估计使用寿命仅仅是加速寿命试验的用处之一。它能使设计者和生产者对产品有更全面的了解，识别出关键的元器件、材料和工艺，并根据需要进行改进及控制另外试验得出的数据使生产厂商和消费者对产品有充分的信心。HALT是高加速寿命测试（Highly Accelerated Life Testing）的英文缩写，是一种发现缺陷的工序，它通过设置逐级递增的加严的环境应力，来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到提升可靠性的目的，最大的特点是设置高于样品设计运行限的环境应力，从而使暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。是在产品设计和试产阶段，通过试验，快速发现产品的潜在缺陷，并加以改进和验证，从而增加产品的极限值，提高其坚固性及可靠性施加于试品的应力，包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。现已成为电子业界的标准产品验证方法它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。通过系统地施加工作应力和逐步增大的环境应力，来激发故障，暴露产品设计中的薄弱环节，为开发人员改进产品设计方案提供依据，以对产品设计缺陷进行及时的修正提高产品在使用过程中的壮实度，保证产品圆满的无故障的完成任务；估计产品的工作极限和破坏极限，评估产品在实际使用条件下的可靠性，并为HASS的应力类 型和应力量级的选择提供依据。mean time to failure）是不可修复系统可靠性的基本指标，指的是一装置到第一次失效的平均时间。MTTF是一统计值，是用于表示长时间大数量的单位；对于失效比例不变的系统，MTTF是非故障率。如果故障率是 故障/1,000,000小时，对于符合指数分布的元件来说，MTTF=1,000,000/故障率。 如果一款电子设备设计上要求有5年的，即43860小时的质量担保。为确保达到MTTF，设计要求一般是在设备最高温度，通常40℃下运行50,000小时。为确保设备在这段时间内不会失效，需要长时间的测试大量设备来确保其可靠性。但是，如果设备运行在高于实际环境的温度下，可以确定加速因素来缩短待测的一定数量设备的测试时间，统计性的测试产品的MTTF。 如果设备的最高运行温度是40℃，那么每升高10℃寿命减少1/2。参考温度是40℃，但是如果设备在高于50℃，这就是加速老化的温度；如果设备没有过载，环境温度应该设置为80℃，否则10℃为阶梯下降，直到设备不过载。如图2所示，这是一个加速寿命终结测试，环境温度需要在70℃左右或者更高，直到设备失效，需要记录失效时间以及计算出统计结果。在40℃下设备至少工作50,000小时，环境温度每升高10℃，寿命将减少2倍。例如，运行在70℃的设备将以如图1所示因数为8来减少寿命： 图1 就算MTBF以因数为8加速，实际测试也要花费很长的时间；因此，可以设想对于元件的可靠性，电子设备在微电子学上按幂指数分布的，意思是说电子学在可靠性分析上是按照随机的失效模式。这种分析方法可以用于统计分析一组没有彻底进行加速MTBF时间测试的样品，这