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光学测微器的原理、检定及误差分析.PDF
测绘信息与工程 2002 ; 27 (4) Jou rn a l o f Geom at ics A u g 23 文章编号: (2002) 中图分类号: P 245; TH 74 1 文献标识码: B 光学测微器的原理、检定及误差分析 路 杰 ( 中国地震局地震研究所, 武汉市小洪山中区70 号, 43007 1) 摘 要 着重讨论了高精度光学测微器的基本工作原理、检定方法及误差分析。 关键词 测微器; 平板玻璃; 光楔; 检定; 误差 测微器是光学测量、计量仪器中的主要读数设备, 它使 式中, 为光楔折射率, 为光楔楔角, 可以看出 ∝ , 因此 n A y A 得测量更直接快捷、更精确。新的国家计量检定规程对其性 在设计中无原理误差。 能进行了严格的技术要求, 下面针对水准仪中高精度光学测 2 检定方法 ( ) 微器 单平板测微和单光楔测微 进行探讨。 按规程JJ G 960200 1 要求, 测微器主要用于检定调焦运 1 基本工作原理 行误差时, 必须进行示值误差的检定, 其中一级测微器示值 ( 1. 1 单平板测微 误差小于等于 0. 15 mm 。对正调焦仪器 如D S 系列和D SZ ) 光线以一定的入射角 通过平板玻璃后, 光线会产生平 系 列 , 按 规 程 JJ G 行移动量 , 或平板玻璃旋转 角时, 光线也会产生平行移 960—200 1 要求进行检 Z 动量 ( ) 定和数据处理。对负调 Z 如图 1 所示 , 即 ( 2 2 ) 12 ( Z = d {1 - [co sn - sin ] }sin 焦仪器 如J SJ 系列检 ) 一般采用正切机构有 验仪 采取如下方法: 效地补偿平板玻璃 的 可用 2~ 3 台同等级正 图 3 光楔工
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