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纳米材料的几种扫描探针显微表征方法 several scanning probe microscopy characterization techniques on nanomaterials

第24卷第5期 光电技术应用 Vd.24.No.5 2009年10月 EIE(mi0—0f叮ICTECHNOLOGYAPPLICATION October.2009 ·光电器件与材料· 纳米材料的几种扫描探针显微表征方法 褚宏祥1,2 (1.曲阜师范大学激光研究所,山东曲阜273100;2.淄博师范高等专科学校科研处,山东淄博255130) 摘要:扫描探针显微镜(SPM)作为一种广泛应用的表面表征工具,不仅可以表征三维形貌,还能定鼍地研究表面的粗糙 度、孔径大小和分布及颗粒尺寸,在许多学科均可发挥作用.以纳米材料为主要研究对象,综述了国外必威体育精装版的几种扫描探针显 在纳米材料的结构和性能方面的应用. 中图分类号:0434.14 文献标识码:A 文章编号:1673—125512009)05一0027—03 Several Probe Characterization ScanningMicroscopy onNanomaterials Techniques CHU Hong-xian91·2 Research 273165,China; (1.Q咖NormalUniversity,LaserInstitute,Qufu 2.ZI∞Normal Administration,Zibo255130,China) College,DivisionofResearch a toolforsurfacecharacterization.Itcouldbeused Abstract:Scanningprobemicroscopy(sPM)ispowerful and itcanbe to threedimensional surface size,distribution,so represent morphology roughness,aperture ap— to scientificfields.Theseveralrecent characterizationare pliedmany scanningprobespectroscope techniques tunneling force scanning summarized,including.scanningmicroscope(盯M)、atomic near-field could usefulinformation thestructureand opticalmicroscopy(SNOM),whichprovide oanceming characterofnanomaterials. words:material microscope Key characterization;scanningprobemicroscopy(SPM);scanningtunneling force ne

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