裸芯片的iddq测试筛选方法研究 research on methods for iddq testing selection of bare chip.pdfVIP

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2017-08-22 发布于上海
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裸芯片的iddq测试筛选方法研究 research on methods for iddq testing selection of bare chip

质量工程卷 QualityEngineering 方面的重要作用，并对深亚微米器件中的IDDQ测试筛选方法做了重点介绍。 ● ● 关键词：IDDQ；裸芯片；筛选 ● ● ● 中图分类号：TN407 文献标识码：B 文章编号：1003—0107(2007)06—0035-03 ：： Abstract：IDDQan rolein and ofbaredie．Ithasbeen testingplaysimporpanttestingscreening ： introducedtoCMOS linesfor productionachievinghigher and semiconductor quailtyreliability．Many nowconsider asan oftheoverall forallIC’s．This companies Iddqtesting integralpart testing paper descdbesthe statusof withtheessentialitemsand datarelatedto present Iddqtestingalong necessary Iddqtesting． words：lDDQ：Dare K●y die；Screeing CLCnumber：TN407Documantcod·：B ArtlclaID：1003-0107(2007)06—0035—03 1．裸芯片的筛选方法的故障，因而可以作为功能测试变为截止(或相反)，然后跳变被关于裸芯片的筛选方法按照的补充，另一方面，由于故障和传播到输出，这一过程称为过渡筛选手段的不同可以分为功能测早期失效的相关性，IDDQ也可以过程。在过渡过程中，由于PMOS 试、敏感参数测试、老化筛选技在减少高成本，高耗时的老化筛和MMOS开关速度差而形成的瞬间术等等。功能测试是集成电路的选试验上发挥很大的作用。通过短路以及负载电容的瞬间充电，最基本的测试类型，它的主要目 IDDQ测试能够大幅度提高裸芯片使得消耗电流脉冲较大。过渡过的是验证集成电路的功能。在电的筛选效率，并可以显著提高可程结束以后，电路各点的状态趋路设计和生产过程中，功能测试靠