TOF$SIMS在源岩单组分研究中的应用.PDF

第 卷第 期 - ) 地学前缘（中国地质大学，北京） L;= [ - V; [) 年 月 ),,( / （ ， ） 5HE [ ),,( MDE@? %A8:BA: #E;B@8:EG 0?8BD WB8X:EG8@F ; N:;GA8:BA:G Y:8Z8B !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! !#$%’% 在源岩单组分研究中的应用 ( ) 李荣西 ，梁汉东 （ 中国科学院地球化学研究所 矿床地球化学开放研究实验室，贵州 贵阳 ； (* ++,,,) ) * 中国矿业大学北京校区，北京 (,,,-. ） 摘 要：应用飞行时间二次离子质谱（ ）对源岩单组分进行原位微分析，结果表明有机组分 !#$%’% （）二次离子峰集中分布在低质量数一端；（）无机离子峰强度普遍高于有机离子峰；（）同类型相邻 ( ) . 的有机离子峰之间相差一定单位的质量（ ，即 ）；（）不同有机组分峰强度最大的有机离子相同， (/ 01 / ) 但它们峰的相对强度差异非常明显，借助有机离子峰的相对强度可以反映有机组分的化学结构及其 生烃性特征。 关键词：烃源岩；单组分； !#$%’% 中图分类号： ； 文献标识码： 文章编号： （ ） 2+-+ 2+3- *4- 5 (,,+ ).)( ),,( ,) ,/)( ,. 飞行时间二次离子质谱（ 光。在 荧光显微镜下选择出要分析的 !89: ; #=8?@$%:A;BCDEF J:@K$’2L$ ! ;B ’DGG %H:A@E;GA;HF 简称!#$%’% ）是一种高灵敏 荧光镜质体、树脂体、角质体（厚壁角质体）和惰性 度、高分辨率原位微分析技术，它通过分析一次离子 组，用钢针做标记，放入!#$%’% 样品室进行分析。 束轰击样品表面时溅射出来的二次离子质谱实现对 实验仪器为美国21 ML5% 物理电子公司制造的高 样品微区成分和结构特征分析。二次离子用于材料 性能 （ ）型仪器。实验时仪器工作条 !#$%’% ),,, 科学领域中单质或化合物（包括有机物、无机物）分 件如下：离子源为镓（ ）源，一次束电压为 ， ND + O:L ［］ 析已经有