IC测试原理－存储器和逻辑芯片的测试.PDF

封装测试技术 IC T Package Test Technology S IC测试原理-存储器和逻辑芯片的测试 许伟达 （科利登系统有限公司） 1 存储器芯片测试 大允许时间间隔。 建立时间(Setup Time)：输入数据电平在锁存 存储器芯片是在特定条件下用来存储数字信息 时钟之前必须稳定保持的时间间隔。 的芯片。存储的信息可以是操作代码，数据文件或 速度(Speed)：功能速度测试是通过重复地进 者是二者的结合。根据特性的不同，存储器可以分 行功能测试，同时改变芯片测试的周期或频率来完 为以下几类，如表 1所示。 成的。测试的周期通常使用二进制有哪些信誉好的足球投注网站的办法来进 表1存储器的种类与特性 行改变。这些测试能够测出芯片的最快运行速度。 存储器的种类 特性 读取时间(Access time)：通常是指在读使能， 闪存(Flash)低成本，高密度，速度快；低功 芯片被选中或地址改变到输出端输出新数据的所需 耗，高可靠性 只读存储器(ROM)成熟的技术，高密度，可靠的， 的时间。读取时间取决于存取单元排列次序。 低成本；写入速度慢，适用于固 定代码存储的批量产品 3 存储器芯片所需的功能测试 静态随机读取存储器 速度最快，高功耗，低密度； （SRAM） 较低的密度关系使其生产成本上升 存储器芯片必须经过许多必要的测试以保证其 较高 功能正确。这些测试主要用来确保芯片不包含以下 电可编程只读存储器(EPROM)高密度；必须通过紫外线照射来 任何一种类型的错误： 擦除内存数据 电可编程可擦除编程只读存 以字节方式进行电擦除；低可靠 存储单元短路：存储单元与电源或者地短路。 储器(EEPROM)性，高成本，密度最低 存储单元开路：存储单元在写入时状态不能改变。 动态随机读取存储器(DRAM)高密度，低成本，高速度，高 相邻单元短路：根据不同的生产工艺，相邻 功耗 的单元会被写入相同或相反的数据。 地址开路或短路：这种错误引起一个存储单 2 存储器术语的定义 元对应多个地址或者多个地址对应一个存储单元。 在讨论存储器芯片测试之前，有必要先定义一 这种错误不容易被检测，因为我们一次只能检查输 些相关的术语。 入地址所对应的输出响应，很难确定是哪一个物理 写入恢复时间(Write Recovery Time)：一个 地址被真正读取。 存储单元在写入操作之后到能正确读取之前这中间