CCD芯片在I波段未明原因的一种退变-上海天文台.PDF

　　中　国　科　学　院　上　海　天　文　台　年　刊 ２００９年　总第３０期 　 ＡＮＮＡＬＳＯＦＳＨＡＮＧＨＡＩＯＢＳＥＲＶＡＴＯＲＹ ＡＣＡＤＥＭＩＡ ＳＩＮＩＣＡ 　Ｎｏ．３０，　２００９ ＣＣＤ芯片在 Ｉ波段未明原因的一种退变 姚 保 安 （中国科学院上海天文台，上海２０００３０） 提　　要 上海天文台１．５６ｍ反射望远镜自２００２年起安装了两架相同的ＣＣＤ照相机，＃１和＃２。所用芯 片都是Ｔｅｋ２０４８×２０４８。它们系在Ｌｉｃｋ天文台使用其控制电路组装。自２００４年起，＃１ＣＣＤ发生了 一种非常奇怪的退变，在其芯片上有许多小的区域的灵敏度下降，并呈现非线性（＜３％）。这些小 区域的数目自２００４年起逐年增加（现已基本稳定）。这种奇怪的退变只发生在Ｉ波段，Ｂ，Ｖ，Ｒ波 段都不受影响，也就是说，只涉及近红外光子。该现象在“ＣＣＤＷｏｒｌｄ”网页报道后引起注意，进行 过许多讨论。这是整个ＣＣＤ领域中未知的一种新毛病，但是找不出其病因。＃２ＣＣＤ没有这种退变。 主题词：仪器 — 检测器 — ＣＣＤ— 技术 — 测光 分类号：ＴＮ３８６．５，ＴＨ７５１ ＵＮＳＯＬＶＥＤＤＥＴＥＲＩＯＲＡＴＩＯＮＯＦＴＨＥＣＣＤＣＨＩＰＩＮＩ ＷＡＶＥＢＡＮＤＷＩＴＨＵＮＫＮＯＷＮＣＡＵＳＥ ＹＡＯＢａｏａｎ （ＳｈａｎｇｈａｉＡｓｔｒｏｎｏｍｉｃａｌＯｂｓｅｒｖａｔｏｒｙ，ＣｈｉｎｅｓｅＡｃａｄｅｍｙｏｆＳｃｉｅｎｃｅｓ，Ｓｈａｎｇｈａｉ２０００３０） Ａｂｓｔｒａｃｔ ＴｈｅＣＣＤ＃１ｃａｍｅｒａｈａｓｂｅｅｎａｔｔａｃｈｅｄｔｏｔｈｅ１．５６ｍｒｅｆｌｅｃｔｏｒｏｆＳｈａｎｇｈａｉＯｂｓｅｒｖａｔｏｒｙｓｉｎｃｅ２００２．Ｉｔ ｈａｓｓｕｆｆｅｒｅｄｆｒｏｍａｋｉｎｄｏｆｓｔｒａｎｇｅｄｅｔｅｒｉｏｒａｔｉｏｎｓｉｎｃｅ２００４：ｔｈｅｒｅａｒｅｍａｎｙｌｏｃａｌｓｕｂｒｅｇｉｏｎｓｏｎｔｈｅＣＣＤ ｃｈｉｐｗｈｅｒｅｔｈｅｓｅｎｓｉｔｉｖｉｔｙｈａｓｄｅｃｒｅａｓｅｄａｎｄｔｈｅｎｏｎｌｉｎｅａｒｉｔｙ（＜３％）ａｐｐｅａｒｅｄ．Ｔｈｅｎｕｍｂｅｒｏｆｔｈｅｓｅ ｌｏｃａｌｓｕｂｒｅｇｉｏｎｓｈａｓｉｎｃｒｅａｓｅｄｓｉｎｃｅ２００４．ＢｕｔｔｈｅｄｅｔｅｒｉｏｒａｔｉｏｎｏｎｌｙａｐｐｅａｒｓｉｎＩ，ｎｏｔｉｎＢ，ＶａｎｄＲ． Ｔｈａｔｉｓｔｏｓａｙ，ｏｎｌｙｔｈｅｎｅａｒｉｎｆｒａｒｅｄｐｈｏｔｏｎｓａｒｅｉｎｖｏｌｖｅｄ，ｓｏｉｔｉｓａｋｉｎｄｏｆｎｅｗｆａｕｌｔｏｆＣＣＤｗｈｉｃｈｉｓｕｎ ｋｎｏｗｎｔｏｔｈｅｗｈｏｌｅＣＣＤｗｏｒｌｄ． Ｋｅｙｗｏｒｄｓ　ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔａｔｉｏｎ— ｄｅｔｅｃｔｏｒｓ— ＣＣＤ— ｔｅｃｈｎｉｑｕｅｓ— ｐｈｏｔｏｍｅｔｒｉｃ １．Ｉｎｔｒｏｄｕｃｔｉｏｎ ＴｈｅｒｅａｒｅｔｗｏｉｄｅｎｔｉｃａｌＣＣＤｃａｍｅｒａｓ，＃１ａｎｄ＃２，ｗｉｔｈｔｈｅｔｈｉｎｎｅｄｂａｃｋｉｌｌｕｍｉｎａｔｅｄＴｅｋ（ｎｏｒｍａｌ 收稿日期：２００９０６０８；　修回日期：２００９０７０３ １０８ 中 国科 学 院上 海 天 文 台年 刊　　　　　　　　　　　　　２００９年 ｎａｍｅ：ＳＩＴｅＳＩ４２４ＡＢ）２０４８×２０４８ｃｈｉｐｓ（ｐｉｘｅｌｓｉｚｅ２４ｍｉｃｒｏｎ）ａｔｔａｃｈｅｄｔｏｔｈｅ１．５６ｍｏｆＳｈａｎｇ ｈａｉＯｂｓｅｒｖａｔｏｒｙ．ＢｏｔｈｏｆｔｈｅｍｗｅｒｅｉｎｔｅｇｒａｔｅｄａｔＬｉｃｋＯｂｓｅｒｖａｔｏｒｙｕｓｉｎｇｔｈｅｉｒｃｏｎｔｒｏｌｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ ［１～３］．Ｔｈｅ＃１ｃａｍｅｒａｈａｓｂｅｅｎｏｎｒｏｕｔｉｎｅｕｓｅｓｉｎｃｅ２００２．Ｈｏｗｅｖｅｒ，ｓｔｒａｎｇｅｄｅｔｅｒｉｏｒａｔｉｏｎｏｆｔｈｅ＃１ ＣＣＤｃｈｉｐｈａｓｈａｐｐｅｎｅｄｓｉｎｃｅ２００４：ｔｈｅｒｅａｒｅｍａｎｙｌｏｃａｌｓｍａｌｌｓｕｂｒｅｇｉｏｎｓｏｎｔｈｅＣＣＤｆｒａｍｅｓｓｈｏｗ