CCD像素响应不均匀性的校正方法-光学精密工程.PDF

第 12 卷 　第 2 期 光学 精密工程 Vol . 12 　No . 2 2004 年 4 月 　　 　　　　　　 　　　　　　Optics and Precision Engineering 　 　 　 　 　 　 　 　　Apr . 2004 　　　　 　 ( ) 文章编号 　1004924X 2004 CCD 像素响应不均匀性的校正方法 陈迎娟 ,张之江 ,张智强 (上海大学 通信与信息工程学院 ,上海 200072) 摘要 :从理论上分析了 CCD 暗电流和光电响应不均匀性产生的原因 ,根据光电响应模型提出了 CCD 像素光电响应不均 匀性的校正方法 ,给出了像素光电响应不均匀性的校正系数用以计算校正量 ;并针对实际情况中干扰光的影响 ,提出了 采用变波长去除干扰方法 ,对校正方法进行了修正 ;最后通过仿真对算法进行了验证 。结果表明 ,能量和噪声的不同对 算法的影响不大 ,校正量是随着光信号能量分布变化的 ,标定过程不受信号的影响 ,具有 自适应性 。该校正方法可以有 效地减小 CCD 像素光电响应不均匀性带来的图像噪声 。 关 　键 　词 : 电荷耦合器件 ;不均匀性 ;暗电流 ;光电响应 ;校正算法 中图分类号 :TN386 . 5 　　文献标识码 :A Correction of CCD pixel nonuniformity CHEN Yingj uan ,ZHAN G Zhij iang ,ZHAN G Zhiqiang ( School of Communication and Inf ormation Engineering , S hanghai University , S hanghai 200072 , China) Abstract : The causes for CCD dark current and photoelectric response are theoretically analyzed . An algorithm based on the photoelectric signal is proposed for correction of CCD photoelectric response nonuniformity , and a coef ficient is given for calculation of electronic quantity to be corrected as well . The interference is eliminated by varying the wavelength according to the effect of actual interference light . Simulation results indicate that the algorithm pro posed can be used to effectively reduce the image noise resulting from CCD pixel photoelectric response nonuniformi ty . Key words : chargecoupled device ; nonuniformity ; dark current ; photoelectric response ; correction algorithm 带来较大的误差 。为了提高测量精度 ,必须对像 1 　引　言 素响应不均匀进行校正 。