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考虑制程变异下应用 bootstrap 信赖区间模拟空间相关性

國 立交通 大學 電機學院 IC設計 產業研發碩士班 碩 士論 文 考慮製程變異下應用 Bootstrap信賴區間模擬空間相關 性 BOOTSTRAP CONFIDENCE INTERVALS AS AN APPROACH to MODEL WITHIN-DIE SPATIAL CORRELATION UNDER PROCESS VARIATIONS 研 究 生:蘇炳熏 指導教授:李育民 教授 中 華民 國 九 十 八 年 一月 考慮製程變異下應用 Bootstrap信賴區間模擬空間相關性 BOOTSTRAP CONFIDENCE INTERVALS AS AN APPROACH to MODEL WITHIN-DIE SPATIAL CORRELATION UNDER PROCESS VARIATIONS 研 究 生:蘇炳熏 Student :Bing-Hsing Su 指導教授:李育民 Advisor :Yu-Min Lee 國 立 交通 大 學 電機學院 IC設計產業研發碩士班 碩 士論 文 A Thesis Submitted to College of Electrical and Computer Engineering National Chiao Tung University in partial Fulfillment of the Requirements for the Degree of Master in Industrial Technology R D Master Program on IC Design January 2009 Hsinchu, Taiwan, Republic of China 中華民國九十八年一月 考慮製程變異下應用 Bootstrap信賴區間模擬空間相關性 學生:蘇炳熏 指導教授:李育民 國立交通大學電機學院產業研發碩士 班 摘 要 隨著製程的技術進步及系統單晶片的到來,深次微米中的時序問題已越顯重 要。傳統以 corner value 為基礎的時序分析將會導致預測的時序被過分低 估。統計型靜態時序分析 ( Statistical Static Timing Analysis - SSTA) 就是利用統計的方式去描述這些製程偏差 , 把他們視為一些統計的隨機變數, 然後利用他們去預測時序並且得到更準確的結果。SSTA使晶片設計者能得以 將時間餘裕(timing margin)及良率 (yield)做最佳化以提升晶片效能和可靠 度。不同

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