光电耦合器电流传输比的噪声表征.pdfVIP

第 卷 第 期 半 导 体 学 报 年 月 光电耦合器电流传输比的噪声表征 胡 瑾 杜 磊 庄奕琪 何 亮 包军林 黄小君 陈春霞 卫 涛 西安电子科技大学技术物理学院西安 西安电子科技大学微电子学院西安 摘要光电耦合器中可俘获载流子的陷阱密度是影响其电流传输比 的重要因素并与器件可靠性有密切关 系 在器件内部的多种噪声中 噪声可有效地表征器件陷阱密度 本文在研究光电耦合器工作原理以及 噪 声理论的基础上建立了光电耦合器的 表征模型和 噪声模型 在输入电流宽范围变化的条件下测量了 器件的电学噪声和 变化实验结果验证了以上模型的正确性 将 模型与噪声模型相结合得到了 与 噪声之间的关系 此关系应用于对光电耦合器辐照实验结果的分析实验结果与理论得到的结论一致 理论 与实验结果表明噪声幅值越大电流指数越接近于 则器件的可靠性越差相同工作条件下 的老化衰减量 越大其失效率显著增大 从而证明噪声可表征光电耦合器的 并能准确地反映器件的可靠性 关键词 噪声光电耦合器电流传输比陷阱 中图分类号 文献标识码 文章编号