穿透式电子显微镜Transmission Electron Microscope.PDFVIP

Transmission Electron Microscope 穿透式電子顯微鏡 Transmission Electron Microscope 綱要 電子顯微鏡的起源 TEM之偵測資料 TEM構造 TEM之儀器系統 TEM之解像能 TEM與光學顯微鏡的結構比較 TEM之優缺點 參考圖片 總結 參考資料 Transmission Electron Microscope 電子顯微鏡的起源 電子顯微鏡 (electron microscope)之源起，應溯及電子發 射 (electron scattering)理論的萌起。1987年，J.J. Thomson發現電子，並使得科學家很快地應用了其特性。 經過一段時間的實驗後，知道電子可以受靜電場或磁場的 作用而聚焦( focused )或折射 ( deflected ) 。陰極射線示波 器 ( cathode-ray oscilloscope )的發展及由此觀念演變而來 的。  1924年，Louis de Broglie發表電子波動說，認為電子束 的行為波長與光波一樣，同為波形運動，但其波長較光波 短，並導出物質波之波長公式： h  p Transmission Electron Microscope 電子顯微鏡的起源  1926年，E. Schrödinger對於de Broglie的波動理論及 W. R. Hamilton ( 1830 )的光學理論再做了進一步的研究。 1927年，美國人Davisson 、Germer及英國人Thomson 、 Reid都以實驗證實了 de Broglie的波動理論。  1926年，H. Busch發表了電磁場中電子的軌道特性。發 現磁場會電場對於電子或帶電粒子的作用就像光學透鏡的 作用一樣，具有軸對稱性( axial symmetry ) 。這項發現， 使得 Broglie和Schrodinger兩人的理論有了實際的應用價 值。電磁光學透鏡即由此發展而來。  1931年，E. Ruska和 M. Knoll發表了以純鐵圍繞以線圈做 成磁場的透鏡設計，可以得到強大的磁場以及有效的聚焦 作用。此後即奠定電子顯微鏡磁場透鏡構造的基礎。  1934年，Ruska發表第一部穿透式電子顯微鏡 ( transmission electron microscope ) 。 Transmission Electron Microscope TEM之偵測資料  TEM具有極高的穿透能力及高 解析度。根據電子與物質作用 所產生的訊號， TEM 主要偵測 的資料可分為三種： 1. 擷取穿透物質的直射電子