利用FE-SEM分析Al-Si-Mg系和Al-Mg-Si系合金中 Mg2Si沉淀相.pdfVIP

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2017-07-26 发布于上海
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利用FE-SEM分析Al-Si-Mg系和Al-Mg-Si系合金中 Mg2Si沉淀相.pdf

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利用FE-SEM分析Al-Si-Mg系和Al-Mg-Si系合金中 Mg2Si沉淀相

第18卷第10期中国有色金属学报 2008年10月、，01．18No10 TheChineseJournaIofNonfe-rrousMetals Oct．2008 文章编号：1004．0609(2008)10—1819．06 M92Si沉淀相李建国，谭红艳，史子木，何迁 (清华人学材料科学’jI-．什ta系，北』矗1000841 i)GE，}tt为研究对象。通过场发lt,t$-j描摘要：以A1．Si—Mg系的A356含金和A1一Mg—Si系的606l合金ti，的M92Si 低电压模，℃及In．1ens探头双醺条什F，町获得较好分辨牢的Mg，Si{，C淀棚表向一匹体显微形貌；通过透射电子显微相的普遍析…情况。 i)l=淀丰|{；FE．SEM：In—lens探头关键词：A1．Si．Mg合金；AI—Mg—Si合会：Mg，Si 中图分类号：TG146．2 文献标识码： A of in and AnalysisM92SiprecipitatesAi··Si·-Mg FE·-SEM AI--Mg-·Sialloysby LI Zi—mu，HE Jian·guo，TAN Qian Hong—yan，SHI ofMaterialsScienceand 100084，China) (Department Engincering，TsinghuaUniversity,Beijing Abstract：The of inboth distributionand and morphologyM92SiprecipitatesA1一Si·Mgalloys(A356alloylA1一Mg-Si 1 withallIn·lensdetectorandinlow that observedFE—SEM mode．Theresults alloys(606alloy)wereby voltage suggest the of can better ifobservationis FE·-SEMinlow morphologyimageM92Siprecipitatesget high·-resolutiononly by modeandwiththeIn-lensdetector．The werealso TEMand tobe voltage precipitatesanalyzed M92Si．The by proved methodcanbeusedtoobserve distributionof inthematrix