SPC提升篇(奔马)题库.pptVIP

* Cpk 等級之說明 6 σ E 級 6 σ D 級 6 σ C 級 6 σ B 級 6 σ A 級 規格中心值 規格上限 規格下限 Cpk 0.67 Cpk = 0.67 Cpk = 1.00 Cpk = 1.33 Cpk = 1.67 T = 10 σ T = 8 σ T = 6 σ T = 4 σ Cpk = 2.00 T = 12 σ * 群體平均值 样本平均值 群體标准偏差 样本标准偏差 X * 1、建立P控制图的步骤： A 收集数据 B 计算控制限 C 过程控制解释 D 过程能力解释 八.计数型控制图 * 建立p图的步骤A Ａ 阶段收集数据 A1选择子组的容量、频率及数量 子组容量 分组频率 子组数量 A2计算每个子组內的不合格品率 A3选择控制图的坐标刻度 A4将不合格品率描绘在控制图 * A1 选择子组容量、频率、数量 子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50~200)以便检验出性能的变化，一般希望每组內能包括几个不合格品，但样本数如果太大也会有不利之处。 分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与的子组容量的要求矛盾 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。 * A2 计算每个子组內的不合格品率 记录每个子组內的下列值 被检项目的数量─n 发现的不合格项目的数量─np 通过这些数据计算不合格品率 * A3 选择控制图的坐标刻度 描绘数据点用的图应将不合格品率作为从坐标，子组识別作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。 * A4 将不合格品率描绘在控制图上 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比別的高出或低出许多，检查计算是否正确。 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状況，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。 * Ｂ 计算控制限 B1 計算过程平均不合格品率 B2 计算上、下控制限 B3 画线并标注 建立p控制图的步驟B * 计算平均不合格率及控制限 * 画线并标注 均值用水平实线：一般为黑色或藍色实线。 控制限用水平虛线：一般为紅色虛线。 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化，会如下图： 2 3 2 1 2 1 2 1 2 1 100 300 200 100 100 200 100 300 200 100 * Ｃ按过程控制用控制图解释 C1分析数据点，找出不稳定证据 C2寻找并纠正特殊原因 C3重新计算控制界限 超出控制限的点 链 明显的非随机图形 建立p图的步骤C * 分析数据点，找出不稳定的证据 判定方法同计量型控制图 * 寻找并纠正特殊原因 当从数据中已发现了失控的情況时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然后纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解決定问题数据。 * 重新计算控制限 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。 一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限內，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。 * 收集数据 绘图及计算 控制限 是否异常 延伸控制限 N 找出异常点原因 并提出相应措施 制程有变化 人机料法环测量 Y 控制限运用说明 * Ｄ 过程能力解释 D1计算过程能力 D2评价过程能力 D3改进过程能力 D4绘制并分析修改后的过程控制图 建立p的步驟D * 过程能力解释 普通原因和 特殊原因并存 找出特殊原因 只剩普通原因 运用控制图 过程稳定 计算过程能力 * 计算过程能力 对于p图，过程能力是通过过程平均不合格率来表，当所有点都受控后才计算该值。 对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能力的更好的估计值。 * 评价过程能力 过程稳定，不良率维 持在一定的水平当中 降低不良率 采取管理上的措施 降低普通原因，如此才能 缩小控制界限，降低不良率 缩小控制限 * 改善过程能力 过程一旦表现出于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因(控制)变差问题的分析方法不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统