基于cmos电路的iddq测试电路设计.docVIP

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2017-08-16 发布于天津
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基于电路的测试电路设计中电网引言测试电路的方法有很多种测试逻辑故障的一般方法是采用逻辑响应测试即通常所说的功能测试功能测试可诊断出逻辑错误但不能检查出晶体管常开故障晶体管常闭故障晶体管栅氧化层短路互连桥短路等物理缺陷引发的故障这些缺陷并不会立即影响电路的逻辑功能通常要在器件工作一段时间后才会影响其逻辑功能功能测试是基于逻辑电平的故障检测通过测量原始输出的电压来确定逻辑电平因此功能测试实际上是电压测试电压测试对于检测固定型故障特别是双极型工艺中的固定型故障是有效的但对于检测工艺中的其他类型故障则显

基于CMOS电路的IDDQ测试电路设计中电网引言测试CMOS电路的方法有很多种，测试逻辑故障的一般方法是采用逻辑响应测试，即通常所说的功能测试。功能测试可诊断出逻辑错误，但不能检查出晶体管常开故障、晶体管常闭故障、晶体管栅氧化层短路，互连桥短路等物理缺陷引发的故障，这些缺陷并不会立即影响电路的逻辑功能，通常要在器件工作一段时间后才会影响其逻辑功能。功能测试是基于逻辑电平的故障检测，通过测量原始输出的电压来确定逻辑电平，因此功能测试实际上是电压测试。电压测试对于检测固定型故障，特别是双极型工艺中的固定型故障是有效的，但对于检测CMOS工艺中的其他类型故障则显得有些不足，而这些故障类型在CMO