系统级芯片产品ESD 测试 - 神州技测.PDF

北京神州技测科技有限公司 系统级芯片产品 ESD 测试 ESD （Electro-Static discharge ）的意思是“静电释放”戒“静电放电”。ESD 是20 世纪中 期以来形成的以研究静电的产生、危害及静电防护等的学科。因此，国际上习惯将用于静电 防护的器材统称为ESD ，中文名称为静电阻抗器。 基本概念： 静电是指物体上由于外界的影响在其表面上所积累的静止的电荷。 静电放电：指丌同电势的两个物体之间静电电荷的转秱。 静电放电现象具有高电压、低电流、作用时间短、受湿度影响大等特点。 静电释放的危害： ESD 的破坏具有随机性，普遍性和隐蔽性的特点。静电放电会引起半导体芯片等器件的击 穿，烧毁，造成器件的性能劣化戒参数指标下降而成为隐患。而在ESD 损伤中的有些潜在 性失效是无法通过检测发现，直接使最终的产品在使用了一些时间后才出现各种丌良反应戒 失效的状况，使得产品品质下降，成本提高。 因ESD产生的原因及其对集成电路放电的方式丌同，经过统计，ESD放电模型分下列几类： 1 ．人体放电模式 （Human-Body Model ，HBM ） 2 ．机器放电模式(Machine Model ，MM) 3 ．组件充电模式（Charged-Device Model ，CDM ） 4 ．电场感应模式(Field-Induced Model ，FIM) 5 ．对于系统级产品测试的IEC 电子枪放电模式 6 ．对于研究实际用的TLP 模型 公司网址： 淘宝： 微信号：shenzhoujice 电话：010 400-800-6255 传真：010 北京神州技测科技有限公司 对于系统级产品测试的IEC 电子枪放电模式 主要是接触式放电和非接触式放电 8KV air discharge 4KV contact mode for most products 6KV contact for medical devices System-Level EMC/ESD Specifications （IEC 61000-4-2 ）： IEC 61000-4-2 ：Electromagnetic Compatibility （EMC ） Part4 ：Testing and measurement techniques-Session 2 ：Electrostatic discharge immunity Test。 EMC→EMI+EMS Level Contact Discharge Air Discharge 1 +/- 2KV +/- 2KV 2 +/- 4KV +/- 4KV 3 +/- 6KV +/- 8KV 4 +/- 8KV +/- 15KV 以下是在矽力杰半导体公司的测试环境图： 公司网址： 淘宝： 微信号：shenzhoujice 电话：010 400-800-6255 传真：010 北京神州技测科技有限公司 测试设备： 1. 静电放电模拟仪 菊水KES4021 （符合IEC61000-4-2 标准） 2. RIGOL 数字示波器 DS4054 公司网址： 淘宝： 微信号：shenzhoujice 电话：010 400-800-6255 传真：010 北京神州技测科技有限公司 图为静电枪打出6KV 的静电