技术参数要求 设备一：X射线荧光光谱仪 1、主机检测性能和要求：波长.DOC

技术参数要求 设备一：X射线荧光光谱仪 1、主机检测性能和要求：波长色散型荧光光谱仪，用于金属材料、非金属材料、块状样品、玻璃熔片样品、粉末压片样品、松散粉末样品、液体样品、不规则样品等定性、定量及无标样定量分析，分析元素范围-92U之间的元素，含量范围ppb-100%。仪器应包括X光管、发生器、测角仪、分光系统、探测器、自动进样器、氦气冲洗系统、真空封挡装置、计算机、数据处理软件及其它的相关附件和装置。—92U 2.3 含量范围：ppb到100% *2.4 自动进样器：70位以上X-Y二维全自动机器人进样器，配50个34mm开口直径原装进口样品杯，能自动辨别液体、固体。配5个用于大气颗粒物分析的无背景散射样品杯，与大气颗粒物软件配套。 2.5 高压发生器： 2.5.1最大功率≥4kW；最大电压≥60kV，20-60 kV间1 kV连续可调； *2.5.2最大电流≥170mA , 5-170 mA间1 mA连续可调。 2.5.3稳定性：外电源波动(1%时，输出波动为≤ (0.00005%。 2.6 X射线光管： *2.6.1类型：采用低温设计端窗Rh靶陶瓷光管, Be窗厚度75μm *2.6.2最大功率及电压、电流：≥4kW ，≥60kV，≥170mA *2.6.3照射方式：下照射，样品分析面朝下，能直接分析液体样品。 2.7 测角仪： *2.7.1角度准确度：≤ (0.001° *2.7.2角度再现精度：≤ (0.0001° *2.7.3定位方式：θ/2θ分别驱动，光学定位，无机械磨损。 2.8探测器： F-PC及SC，全真空扫描 计数率线性： SC：大于1.5×106 cps F-PC：大于3×106 cps 2.9配置LiF200、PET、XS-55多层膜分光晶体用于O-Mg之间元素分析。 2.10 4位准直器： 配细准直器、通用准直器、粗准直器 2.11 光谱室温度稳定性：±0.05℃。 *2.12 原位测量及配置真空封挡装置。在测量液体及松散粉末样品时，样品不需要在光谱室内转换位置，保证样品的安全性。能够在样品室与光谱室间插入一程序控制的真空封挡, 使只有样品室冲洗氦气，光谱室始终保持真空状态，以便起到保护光谱室、节约氦气消耗、增加探测器稳定性和分析重现性的作用。在测量过程中，真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室，防止污染光谱室。 2.13 Be隔离膜用于光管的保护，测量液体样品或粉尘样品防止损坏或污染光管。 *2.14 自动交换污染防护屏：配有自动交换的污染防护屏，用于在样品装载及样品室抽真空过程中保护测角仪、准直器、晶体及探测器等部件 2.15液体样品杯1000个，麦拉膜200米，prolene膜90米。 2.16计算机控制系统与操作系统：双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制，保证操作简单而无失误，即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等，通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制，即使一台出现问题，也不影响测量工作。 触屏控制计算机配置：优于Windows 7操作系统(64位）,四核3.6GHz, 8G内存,500G硬盘,8倍DVD/+-RW可擦写光驱,512MB显卡, 24LED显示器,键盘,鼠标,网卡。配置可备份数据的移动硬盘（2TB）及高性能激光打印机。 2.17软件：定性、定量及无标样分析软件，包含以下功能：全自动安装与校准系统；光谱仪及进样器状态的实时、动态图形显示；网络及数据传输软件免费升级保证。软件的智能系统提供测量参数的最佳条件自动校正谱线重叠干扰；采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应修正（变动理论Alpha系数法）；无标样分析软件 *2.18 质量及安全标准：ISO9001 EN29002质量认证，CE机械安全认证，DIN 54113射线防护认证。 *2.19 波长色散荧光光谱仪在环境监测有5个以上用户，土壤解决方案。 3．辅助配置设备 3.1 水冷机：国产8kW制冷量分体式外部水冷机 1台 3.2 磨样机：国产自动磨样机一台，配100cc碳化钨磨盘 1个 3.3 压片机：国产40吨自动压片机一台，压样模具1套。（与进样杯配套） 3.4 UPS电源 半小时以上 1个 3.5 P10气体减压阀及氦气减压阀各1个，所需的气体钢瓶各1个，气体各1瓶。 3.6 配备两年量的备件包 1套 4、售后服务要求 4.1 到货后30天内，卖方负责仪器的安装和调试。