特征荧光X射线吸收法精确测定基于铍膜的235U裂变靶厚度.pdfVIP

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2017-07-06 发布于北京
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特征荧光X射线吸收法精确测定基于铍膜的235U裂变靶厚度.pdf

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特征荧光X射线吸收法精确测定基于铍膜的235U裂变靶厚度.pdf

第42卷第11期原子能科学技术 V01．42，No．11 2008年11月 Atomic Scienceand Nov．2008 Energy Technology 特征荧光X射线吸收法精确测定基于铍膜的235U裂变靶厚度欧阳晓平，刘林月，黑东炜，王宝慧 (西北核技术研究所。陕西西安710024) 摘要：研究发展了一种基于特征荧光X射线吸收谱的、可精确测量裂变物质质量厚度的方法，系统分析了测量不确定度。实验结果表明，该方法可有效测定基于铍膜的235U裂变靶质量厚度，测量不确定度小于5％，其不确定度主要来源于测量的统计性．关键词：特征荧光X射线吸收谱；2髓U；裂变材料，质量厚度测量；镀基底中图分类号：0571．43；0434文献标志码：A 文章编号：1000—6931(2008)11—0997—04 235 MassThicknessMeasurementof UFission Target Oil Substrate CharacteristicFluorescent Beryllium byUsing Absorption X-ray Spectroscopy OUYANG HEI Xiao-ping，LIULin—yue， Bao-hui Dong-wei，WANG (NorthtvestInstituteNuclear P。o．BOX69—9，Xi’an of Technology， 710024。China) thecharacteristicfluorescent Abstract：Byusing X-ray new absorptionspectroscopy，a methodwas tomeasure 235 strategy developed themassthicknessof Ufission target basedon substrate themetrical beryllium errorwasalso accurately，and analyzed．It was that found themassthicknesscanbe obtained this effectively throughstrategy method．ThemetricalerrorofmassthicknessiSlessthan t