双间隙耦合腔中自激振荡问题的分析和模拟-强激光与粒子束.PDF

第 卷第 期 强 激 光 与 粒 子 束 ， ２０ １０ Ｖｏｌ．２０Ｎｏ．１０ 　 　 年 月 ， ２００８ １０ ＨＩＧＨ ＰＯＷＥＲＬＡＳＥＲＡＮＤＰＡＲＴＩＣＬＥＢＥＡＭＳ Ｏｃｔ．２００８ 　 　 文章编号： （ ） １００１４３２２２００８１０１６９９０５ 　 双间隙耦合腔中自激振荡问题的分析和模拟 ， １２ １ １ 全亚民 ， 丁耀根 ， 王树忠 　 　 （ 中国科学院 电子学研究所，北京 ； 中国科学院 研究生院，北京 ） １． １００１９０ ２． １０００３９ 　 摘 要： 建立了双间隙耦合腔中高次模式小信号电子电导计算模型，使用该模型和 ＩＳＦＩＥＬ３Ｄ电磁场软 　　 　 　 件模拟的高次模式电场分布图分析了双间隙耦合腔中高次模式的自激性质。由 维粒子模拟软件对双间隙耦 ３ 合腔自激模拟显示实际结构中存在高次模式 和 自激，验证了使用该方法分析双间隙耦合 ３．１７ＧＨｚ ３．９９ＧＨｚ 腔中高次模式自激性质的合理性。并通过对热测数据的分析说明实际结构中确实存在相应的模式自激并伴随 吸收腔和耦合环发热现象。 关键词： 多注速调管； 双间隙耦合腔； 自激振荡； 高次模式； 电子电导 　　 　 　 　 　 　 中图分类号： ＴＮ１２２ 文献标志码： Ａ 　　 　 　　　　 　 ［ ］ １４ 双间隙耦合腔输出电路作为一种展宽高功率速调管带宽的重要手段 ，主要应用于宽带速调管和多注速 　　 ［ ］ ５６ 调管。由于双间隙输出回路中两个间隙之间有耦合，因此该电路的稳定性一直受到人们的关注 。对于双间 ［］ ７ 隙耦合腔中工作模式的稳定性已经被广泛研究并且得到有效解决 ，但是实际研究工作表明，由于多注速调管