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Si4432 AMR 规范测试结果 - Silicon Labs
AN548
Si4432 AMR 规范测试结果
1. 简介
该文档提供了 Si4432-B1 工作在 470 ~ 510 MHz 频段时的一致性测试结果。该结果表明 Si4432-B1 的性能完全遵
从了中国 AMR 频段无线技术规范的要求。所有的测试都是采用 ISM-DK3 通过 WDS 来控制 4432-T-B1-D-470
TX/RX Direct Tie 测试板来完成。该测试结果也可通过使用相同的配置和脚本来重现。这些测试配置信息可通过
和 EZRadioPRO® Quick Start Guide 来获得。
所有的芯片配置数据直接由寄存器计算表(Excel Register Calculator)计算获得的。如果测试的结果与本测试不一致,
请联系客户支持。
2. AMR 规范的测试项目
中国的AMR 测试规范仅涉及有效辐射功率、占用带宽、载波频率误差、杂散发射和边带辐射,不涉及接收灵敏度和选
择性或阻塞性能测试要求。该规范的最大输出功率为 +17 dBm。
3. AMR 一致性测试结果
Silicon Labs 已经根据AMR 规范在470~510 MHz 频段上测试了Si4432芯片和4432-T-B1- D- 470 TX/RX Direct Tie 测
试板的性能 , 测试的功率是 +17 dBm。该测试是在华通威测试实验室进行的。
3.1. 测试条件
温度 : 15–35 °C
湿度 : 30–60 %
气压 : 950–1050 mbar
测试电压 : DC 3.3 V
3.2. 测试项目和结果
下面是各测试项及对应的测试的结果 , 各项测试都满足要求。
3.2.1. 有效辐射功率
有效辐射功率是指对于任何调制方式 , 在指定的测试条件下在最大场强方向的辐射功率。该限值是 17 dBm。
4432-T-B1-D-470 TX/RX Direct Tie 测试板通过了测试 , 结果如下 :
Rev. 0.1 5/11 Copyright © 2011 by Silicon Laboratories AN548
AN548
3.2.2. 占用带宽
占用带宽是指在调制的条件下包含99% 的辐射功率的带宽。在该测试中 , 调制数据为 PN9 码 , 数据率是 38.4 kbps,
频偏是 ±50 kHz, 调制方式是 GFSK。该要求限值是200 kHz 。
4432-T-B1-D-470 TX/RX Direct Tie 测试板通过了测试 , 结果如下 :
Nominal EUT Operating Condition
Occupied
Frequency Frequency Data Rate (kbps) Bandwidth (kHz) Limit (kHz) Result
(MHz) Deviation (kHz)
471 50 38.4 140.281 200 PASS
490 50 38.4 155.311 200 PASS
509 50 38.4 144.289 200 PASS
3.2.3. 频率误差
频率误差是指在正常和极端条件下 , 所测量的未调制载波频率和标称频率之差。该要求限值是 100 ppm。
4432-T-B1-D-470 TX/RX Direct Tie 测试板通过了测试 , 结果如下 :
Nominal Frequency Measurement Frequency Error
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